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X선 회절, 소각 X선 산란, 광각 X선산란, 주사전자현미경, 투과전자현미경, 적외선 분광법, 원자력 현미경은 일반적으로 고체 매질에서 나노입자의 분산성을 평가하는 데 사용하는 방법이다.
X線回折(XRD)、焼却X線散乱(SAXS)、広角X線散乱(WAXS)、走査電子顕微鏡(SEM)、透過電子顕微鏡(TEM)、赤外線分光法(IR)、原子力顕微鏡(AFM)は一般的に固体媒質でナノ粒子の分散性を評価するために使用される方法だ。