일본어로 바꿔봐
다만 반도체 칩의 종류에 따라 검사의 난이도가 상이한데, 낸드 플래시는 D램 또는 고사양 비메모리 칩 대비 프로브 팁의 수가 상대적으로 적기 때문에 검사 공정의 난이도도 비교적 낮은 편이다.
ただ、半導体チップの種類によって検査の難易度が異なるが、ＮＡＮＤフラッシュはＤＲＡＭまたは高仕様非メモリチップに比べてプローブチップの数が比較的少ないため、検査工程の難易度も比較的低い方である。