Method for calibrating a test rigA method for calibrating a test apparatus, having a first and a second directional coupler, for gauging a two-port test object that has a first port and a second port in a calibration plane, wherein for the purpose of calibrating the test apparatus a vectorial network analyzer having a 1st-6th test port is connected to the first and second ports in the calibration plane such that the first and second test ports are connected to respective port in the calibration plane, the third and fourth test ports are connected to the first directional coupler and the fifth and sixth test ports are connected to the second directional coupler via a respective waveguide for electromagnetic waves. For different calibration standards, scatter parameters are determined for each desired frequency point. For the different calibration standards, corrections to the scatter matrix are made in order to obtain a corrected scatter matrix. The scatter parameters of the corrected scatter matrix are used to determine terms for error matrices.A method for calibrating a test apparatus, having a first and a second directional coupler, for testing a two-port test object (DUT?Device Under Test), which has a first port and a second port in a calibration plane; wherein for the purpose of calibrating the test apparatus a vectorial network analyzer (VNA) having a first, a second, a third, a fourth, a fifth and a sixth test port is connected to the first and second ports in the calibration plane such that the first test port is connected to the first port in the calibration plane, the second test port is connected to the second port in the calibration plane, the third and fourth test ports are connected to the first directional coupler and the fifth and sixth test ports are connected to the second directional coupler via a respective waveguide for electromagnetic waves;wherein at the first test port an electromagnetic wave a1 runs out in the direction of the first port in the calibration plane and an electromagnetic wave b1 runs in from the direction of the first port in the calibration plane;wherein at the second test port an electromagnetic wave a2 runs out in the direction of the second port in the calibration plane and an electromagnetic wave b2 runs in from the direction of the second port in the calibration plane;wherein at the first port in the calibration plane an electromagnetic wave aDUT,1 runs in from the direction of the first test port and an electromagnetic wave bDUT,1 runs out in the direction of the first test port;wherein at the second port in the calibration plane an electromagnetic wave aDUT,2 runs in from the direction of the second test port and an electromagnetic wave bDUT,2 runs out in the direction of the second test port;wherein between the first test port and the first port in the calibration plane a component of the wave a1 is coupled out by the first directional coupler as aMess,1 and fed to the third test port of the VNA;wherein between the first test port and the first port in the calibration plane a component of the wave b1 is coupled out by the first directional coupler as bMess,1 and fed to the fourth test port of the VNA;wherein between the second test port and the second port in the calibration plane a component of the wave a2 is coupled out by the second directional coupler as aMess,2 and fed to the fifth test port of the VNA;wherein between the second test port and the second port in the calibration plane a component of the wave b2 is coupled out by the second directional coupler as bMess,2 and fed to the sixth test port of the VNA;wherein in order to calibrate the test apparatus, instead of the DUT at least three different calibration standards are arranged in the calibration plane;wherein for each calibration standard K and for each desired frequency point of a frequency f of a1 or a2 scatter parameters Sxy,K,f, where x=1, 2, 3, 4, 5 or 6 and y=1 or 2, are determined between the y-th and the x-th test port of the VNA for the calibration standard K and the frequency f is determined from the known values a1,K,f and a2,K,f as well as from the measured values b1,K,f, b2,K,f, aMess,1,K,f, bMess,1,K,faMess,2,K,f, bMess,2,K,f, whereby [Image]wherein a scatter matrix Sunkorr,K,f [Image]describing the transmission via the directional coupler is calculated from the measured scatter parameters Sxy,K,f of the calibration standards, where x=3, 4, 5, 6 and y=1, 2, with scatter parameters S11,unkorr,K,f, S12,unkorr,K,f, S21,unkorr,K,f and S22,unkorr,K,f, according to [Image]whereby a scatter matrix SI,K,f describing the transmission between the first test port of the VNA and the first port in the calibration plane on the one hand, as well as between the second test port of the VNA and the second port in the calibration plane on the other hand, is determined with the measured scatter parameters Sxy,K,f of the calibration standards, where x=1, 2 and y=1, 2, as [Image]whereby, with the measured scatter parameters Sxy,K,f of the scatter matrix SI,K,f, where x=1, 2 and y=1, 2, terms i00, i01·i10 and i11 of an error matrix IA with [Image]are determined for a signal transmission between the first test port on the one hand and the first port in the calibration plane on the other hand depending on a frequency f of the waves a1 or a2 by means of a predetermined calibration algorithm, where IA is a scatter matrix according to [Image]whereby, with the measured scatter parameters Sxy,K,f of the scatter matrix SI,K,f, where x=1, 2 and y=1, 2, terms i22, i23·i32 and i33 of an error matrix IB with [Image]are determined for a signal transmission between the second test port on the one hand and the second port in the calibration plane on the other hand depending on a frequency f of the waves a1 or a2 by means of a predetermined calibration algorithm, whereby IB is a scatter matrix according to [Image]such that for each frequency step with the frequency f of a1 or a2 and for each calibration standard K a correction of the scatter matrix Sunkorr,K...
시험 장치를 교정하기 위한 방법교정 평면에서 제1 포트 및 제2 포트를 갖는 2-포트 테스트 대상을 측정하기 위해 제1 및 제2 방향성 커플러를 갖는 테스트 장치를 교정하기 위한 방법으로서, 여기서 테스트 장치를 교정하기 위한 목적으로 벡터 1-6번째 테스트 포트를 갖는 네트워크 분석기는 교정 평면의 첫 번째 및 두 번째 포트에 연결되어 첫 번째 및 두 번째 테스트 포트가 교정 평면의 각 포트에 연결되고 세 번째 및 네 번째 테스트 포트가 첫 번째 포트에 연결된다. 지향성 커플러와 제5 및 제6 테스트 포트는 전자기파용 도파관을 통해 제2 지향성 커플러에 연결된다. 다양한 교정 표준의 경우 원하는 각 주파수 지점에 대해 산란 매개변수가 결정된다. 다른 보정 표준의 경우 수정된 분산 매트릭스를 얻기 위해 분산 매트릭스를 수정한다. 수정된 산점 행렬의 산포 매개변수는 오류 행렬에 대한 항을 결정하는 데 사용된다.교정 평면 내에서 제1 포트 및 제2 포트를 가지며, 2-포트 시험 객체(DUT)를 시험하기 위하여, 제1 및 제2 방향성 결합기를 갖는 시험 장치를 교정하기 위한 방법에 있어서, 시험 장치를 교정하기 위하여 제1, 제2, 제3, 제4, 제5 및 제6 시험 포트를 갖는 백터 네트워크 분석기(VNA)가 상기 교정 평면 내의 제1 및 제2 포트들에 연결되어 상기 제1 시험 포트는 상기 교정 평면 내의 상기 제1 포트에 연결되고, 상기 제2 시험 포트는 상기 교정 평면 내의 상기 제2 포트에 연결되고, 전자기 파동들에 대한 각각의 도파관을 통해, 상기 제3 및 제4 시험 포트는 상기 제1 방향성 결합기에 연결되고 상기 제5 및 제6 시험 포트는 상기 제2 방향성 결합기에 연결되고;상기 제1 시험 포트에서, 전자기 파동(a1)이 교정 평면 내에서 제1 포트의 방향으로 진출하고 전자기 파동(b1)이 상기 교정 평면 내의 제1 포트의 방향으로부터 진입하고;상기 제2 시험 포트에서, 전자기 파동(a2)이 상기 교정 평면 내에서 상기 제2 포트의 방향으로 진출하고 전자기 파동(b2)은 상기 교정 평면 내의 상기 제2 포트의 방향으로부터 진입하고;상기 교정 평면의 상기 제1 포트에서, 전자기 파동(aDUT,1)은 상기 제1 시험 포트의 방향으로부터 진입하고 전자기 파동(bDUT,1)은 상기 제1 시험 포트의 방향으로 진출하고;상기 교정 평면 내의 상기 제2 포트에서, 전자기 파동(aDUT,2)은 상기 제2 시험 포트의 방향으로부터 진입하고 전자기 파동(bDUT,2)은 상기 제2 시험 포트의 방향으로 진출하고;상기 제1 시험 포트 및 상기 교정 평면 내의 상기 제1 포트 사이에서, 파동(a1)의 성분이 상기 제1 방향성 결합기에 의해 aMess,1 로 커플링되며 VNA의 상기 제3 시험 포트로 공급되고;상기 제1 시험 포트 및 상기 교정 평면 내의 상기 제1 포트 사이에서, 파동(b1)의 성분이 상기 제1 방향성 결합기에 의해 bMess,1 로 커플링되며 VNA의 상기 제4 시험 포트로 공급되고;상기 제2 시험 포트 및 상기 교정 평면 내의 상기 제2 포트 사이에서, 파동(a2)의 성분이 상기 제2 방향성 결합기에 의해 aMess,2 로 커플링되며 VNA의 상기 제5 시험 포트로 공급되고;상기 제2 시험 포트 및 상기 교정 평면 내의 상기 제2 포트 사이에서, 파동(b2)의 성분이 상기 제2 방향성 결합기에 의해 bMess,2 로 커플링되며 VNA의 상기 제6 시험 포트로 공급되고;상기 시험 장치를 교정하기 위하여, DUT 대신에 세 개 이상의 상이한 교정 표준들이 상기 교정 평면 내에 배열되고,각각의 교정 표준 K 및 a1 또는 a2의 주파수(f)의 각각의 요구 주파수 지점에 대하여 산점도 파라미터들(Sxy,K,f)이, 여기서 x = 1, 2, 3, 4, 5 또는 6이며 y = 1 또는 2임, 교정 표준 K에 대하여 상기 VNA의 제y 및 제x 시험 포트 사이에서 결정되고 주파수(f)가 알고 있는 값들 a1,K,f 및 a2,K,f로부터 및 측정된 값들 b1,K,f, b2,K,f, aMess,1,K,f, bMess,1,K,f aMess,2,K,f, bMess,2,K,f,로부터 결정되고, 이로써[이미지]이고,이하의 산점도 행렬(Sunkorr,K,f)은,[이미지]방향성 결합기를 통한 전송이 교정 표준들의 측정된 산점도 파라미터들(Sxy,K,f)로부터 계산되는 것을 나타내며, 여기서 x = 3, 4, 5, 6이고 y= 1, 2이며, 이는 이하의 산점도 파라미터들(S11,unkorr,K,f,S12,unkorr,K,f, S21,unkorr,K,f 및 S22,unkorr,K,f,)을 이용하며,[이미지]이로써 한 편으로 VNA의 상기 제1 시험 포트 및 상기 교정 평면 내의 상기 제1 포트 사이의 및 다른 한편으로 VNA의 상기 제2 시험 포트 및 상기 교정 평면 내의 제2 포트 사이의 전송을 나타내는 산점도 행렬(SI,K,f)이 상기 교정 표준들의 상기 측정된 산점도 파라미터들(Sxy,K,f)을 이용하여 결정되며, 여기서, x = 1, 2 이며 y = 1, 2이고,[이미지]이므로,이로써, 상기 산점도 행렬(SI,K,f)의 상기 측정된 산점도 파라미터들(Sxy,K,f)을 이용하여, 여기서, x = 1, 2이며, y=1, 2임, 아래와 같은 오류 행렬(IA)의 항들(i00, i01·i10 및 i11)이,[이미지]미리 결정된 교정 알고리즘에 의해 파동(a1) 또는 파동(a2)의 주파수(f)에 따라 한 편으로 상기 제1 시험 포트 및 다른 한편으로 상기 교정 평면 내의 상기 제1 포트 사이의 신호 전송을 위하여 결정되고, 여기서 IA는 이하에 따른 산점도 행렬이고,[이미지]이로써, 상기 산점도 행렬(SI,K,f)의 상기 측정된 산점도 파라미터들(Sxy,K,f)을 이용하여, 여기서, x = 1, 2이고 y = 1, 2임, 아래와 같은 오류 행렬(IB)의 항들(i22, i23·i32 및i33)이,[이미지]미리 결정된 교정 알고리즘에 의해 파동(a1) 또는 파동(a2)의 주파수(f)에 따라 한 편으로 상기 제2 시험 포트 및 다른 한편으로 상기 교정 평면 내의 상기 제2 포트 사이의 신호 전송을 위하여 결정되고, 이로써 IB는 이하에 따른 산점도 행렬이 되되,[이미지]파동(a1) 또는 파동(a2)의 주파수(f)에 대한 각각의 주파수 단계에 대하여 및 각각의 교정 표준 K에 대하여 산점도 행렬(Sunkorr,K,f)의 수정이 아래의 공식에 따라 수정된 산점도 행렬(Sc,K,f)을 생성하기 위해 수행되고,[이미지]여기서 D = 1 - σ12σ21ΓF,K,f ΓR,K,f, 이고 ΓF,K,f = [이미지]는 VNA의 상기 제1 시험 포트를 통해 공급되고 있는 상기 제2 방향성 결합기의 출력에서 측정된 전파된 파동 대 반사된 파동의 비율을 나타내고 ΓR,K,f = [이미지]는 VNA의 상기 제2 시험 포트를 통해 공급되고 있는 상기 제1 방향성 결합기의 출력에서 측정된 전파된 파동 대 반사된 파동의 비율을 나타내고;이로써, 산점도 행렬(Sc,K,f)의 산점도 파라미터들을 이용하여 아래와 같은 오류 행렬의 항들(e00, e01·e10및 e11)이,[이미지]미리 결정된 교정 알고리즘에 의해 파동(a1) 또는 파동(a2)의 주파수(f)에 따라 한 편으로 상기 제3 및 제4 시험 포트 및 다른 한편으로 상기 교정 평면 내의 상기 제1 포트 사이의 신호 전송을 위하여 결정되고, 여기서 EA는 이하에 따른 산점도 행렬이고,[이미지]이로써, 산점도 행렬(Sc,K,f)의 산점도 파라미터들을 이용하여 아래와 같은 오류 행렬의 항들(e22, e23·e32 및 e33)이,[이미지]미리 결정된 교정 알고리즘에 의해 파동(a1) 또는 파동(a2)의 주파수(f)에 따라 한 편으로 상기 제5 및 제6 시험 포트 및 다른 한편으로 상기 교정 평면 내의 상기 제2 포트 사이의 신호 전송을 위하여 결정되고, 이로써 EB는 이하에 따른 산점도 행렬이 되고,[이미지]이로써 곱(i01·i10)으로부터 분리된 항들(i01 및i10) 및 곱(i23·i32)으로부터 분리된 항들(i23 및 i32)이 아래의 공식에 따라 결정되고,[이미지]이고[이미지]이로써 부호(sign)가 연속 외삽법을 통해 알고 있는 위상을 갖는 주파수 지점으로부터 시작하여 각각의 경우에 대해 결정되며, 이로써 일 주파수 지점으로부터 다음 주파수 지점가지의 위상 차이가, 만일 이러한 위상 차이가 미리 결정된 임계값을 초과한다면, 180°까지 감소되고;이로써 분리된 항(e10)은 아래의 공식에 따라 곱(e10·e01)으로부터 계산되고,[이미지]분리된 항(e01)도 이로부터 결정되고, 이로써[이미지]이고,K*가 전달 없는 교정 표준을 지정하고;이로써 곱(e32·e23)으로부터 분리된 항(e23)이 아래의 공식에 따라 계산되고,[이미지]분리된 항(e23)도 이로부터 결정되고, 이로써[이미지]K*가 전달 없는 교정 표준을 지정하는 것을 특징으로 하는, 방법.