The present invention provides a technique for enabling high-speed binary search.A binary search circuit 36 searches a database 50, which stores pieces of data aligned in ascending or descending order, for comparison target data by binary search. Comparison circuits 36A, 36B and 36C compare pieces of data read out from databases 50A, 50B and 50C with the comparison target data. A control circuit 36Z inputs each piece of data at the 1/2n, 2/2n, ..., and (2n-1)/2n positions in the search range of the database 50 into 2n-1 comparison circuits respectively and allows the comparison circuits to compare the pieces of data thus input with the comparison target data, so as to perform n searchs simultaneously in parallel.
본 발명은 고속의 이진 탐색을 가능하게 하는 기술을 제공한다. 이진 탐색 회로(36)는 이진 탐색에 의해, 비교 타겟 데이터에 대한 데이터 부분들을 오름차순 또는 내림차순으로 정렬하여 저장하는 데이터베이스(50)를 탐색한다. 비교 회로들(36A, 36B, 및 36C)은 데이터베이스(50A, 50B, 및 50C)로부터 리드된 데이터 부분들을 상기 비교 타겟 데이터와 비교한다. 제어 회로(36Z)는 상기 데이터베이스(50)의 탐색 범위 내의 1/2n, 2/2n, ..., (2n-1)/2n 위치에 있는 각각의 데이터 부분을 2n-1개의 비교 회로들에 각각 입력시키고, 상기 비교 회로들로 하여금 입력된 데이터 부분들과 상기 비교 타겟 데이터를 비교하여 하여 n번의 탐색을 동시에 병렬적으로 수행할 수 있게 한다.