To provide a method for quantitative measurement of silicon elements in naphtha with high accuracy. The method for quantitative measurement of silicon elements in naphtha includes introducing a naphtha containing a silicon compound into an inductively-coupled plasma apparatus and atomizing the naphtha in a chamber controlled to a temperature of 10°C or less. The naphtha is introduced into the plasma to be atomized or ionized to quantitatively determine the amount of silicon atoms. Preferably, the naphtha comprises hexamethylcyclotrisiloxane as a silicon compound.
나프타 중의 규소 원소를 정밀하게 정량하는 방법을 제공한다. 나프타 중의 규소 원소를 정량하는 방법으로서, 실리콘 화합물을 포함한 나프타를 유도 결합 플라스마 장치에 도입하고 10℃이하의 온도로 제어한 챔버 내에서 무화한 후, 플라스마에 도입해 원자화 내지 이온화해 규소 원소량을 정량하는 것을 특징으로 하는 나프타 중의 규소 원소량의 정량 방법이며 바람직하게는, 상기 나프타가 실리콘 화합물로서 헥사메틸사이클로트리실록산을 포함한 나프타 중의 규소 원소의 정량 방법이다.