An example system is described herein. The example system may include an inspection device comprising at least one image capture device, the at least one image capture device configured to capture a reference image of a sheet part. Additionally, the example system may include a processing unit configured to identify at least one primary point in the reference image and identify at least one secondary point in a mask image. The processing unit may transform the mask image based on the at least one primary point and the at least one secondary point. The processing unit may apply the transformed mask image to the reference image to identify an inspection region within the reference image, process the inspection region of the reference image to determine the quality of the sheet part, and output information indicative of the quality of the sheet part.
예시적인 시스템이 본 명세서에 설명된다. 예시적인 시스템은 적어도 하나의 이미지 캡처 디바이스를 포함하는 검사 디바이스를 포함할 수 있으며, 적어도 하나의 이미지 캡처 디바이스는 시트 파트의 참조 이미지를 캡처하도록 구성된다. 또한, 예시적인 시스템은 참조 이미지에서 적어도 하나의 1차 지점을 식별하고 마스크 이미지에서 적어도 하나의 2차 지점을 식별하도록 구성된 처리 유닛을 포함할 수 있다. 처리 유닛은 적어도 하나의 1차 지점 및 적어도 하나의 2차 지점에 기초하여 마스크 이미지를 변환할 수 있다. 처리 유닛은 변환된 마스크 이미지를 참조 이미지에 적용하여 참조 이미지 내의 검사 영역을 식별하고, 참조 이미지의 검사 영역을 처리하여 시트 파트의 품질을 결정하고, 시트 파트의 품질을 나타내는 정보를 출력할 수 있다.