A waveform generation and measurement module that may be used in automated test equipment. The waveform generation and measurement module includes high speed SERDES (or other shift registers) that are used to digitally draw a test waveform. Additional high speed SERDES may also be used to receive (in serial form) a response waveform from a device under test and convert it to parallel data for high speed processing. The waveform generation and measurement module may be implemented in field programmable gate array logic.
파형 발생 및 측정 모듈은 자동화 테스트 장비에서 사용될 수 있다. 파형 발생 및 측정 모듈은 테스트 파형을 디지털로 작성하기 위해 사용되는 고속 SERDES(또는 다른 시프트 레지스터)를 포함한다. 추가적으로, 고속 SERDES는 피시험 디바이스로부터 응답 파형을 (직렬 포맷으로) 수신하여 고속 처리를 위한 병렬 데이터로 변환하는데 사용될 수도 있다. 파형 발생 및 측정 모듈은 필드 프로그래머블 게이트 어레이 로직으로 구현될 수 있다.