The invention relates to a device for testing electronic components, comprising: a testing head, and means for bringing the components for testing into contact with the testing head, characterized in that the means for bringing the components for testing into contact with the testing head comprise at least two positioning units which are adapted for co-action with the common testing head. The invention also relates to a method for performing a test measurement. 
본 발명은 전자 부품을 테스트하기 위한 장치에 관한 것으로, 테스트 헤드, 및 테스트용 부품을 테스트 헤드와 접촉하게 하는 수단을 포함하며, 공통 테스트 헤드와 함께 작동하도록 조정된 두 개 이상의 위치 지정 장치. 본 발명은 또한 테스트 측정을 수행하기 위한 방법에 관한 것이다.