Embodiments of the invention provide a machine learning based detection system, in which defects can be detected even if the system was not trained for these defects and even in items that were not used to train the system, thereby offering an inherently flexible detection system.
본 발명의 실시예는 시스템이 이러한 결함에 대해 훈련되지 않았더라도 그리고 시스템을 훈련시키는 데 사용되지 않은 품목에서도 결함을 검출하여 본질적으로 유연한 검출 시스템을 제공할 수 있는 기계 학습 기반 검출 시스템을 제공한다.