Inoperative or defective electroluminescent (EL) emitters in an EL display having a plurality of subpixels are detected. Current flow through a drive transistor in a subpixel is turned off, a selected test current is provided through the EL emitter in the subpixel using a current source, and the voltage at a second electrode of a readout transistor in the subpixel is measured to provide a status signal representative of characteristics of the selected EL emitter. The status signal for the subpixel is compared to the respective status signals of neighboring subpixels to determine whether the EL emitter in the subpixel is defective.
본 발명에 따르면, 복수의 서브픽셀들을 갖는 EL 디스플레이에서 동작불능 또는 결함있는 전계발광(EL) 이미터들이 검출된다. 서브픽셀내 드라이브 트랜지스터를 지나는 전류가 오프되고, 셀렉트 테스트 전류가 전류 소스를 이용해 서브픽셀내 EL 이미터를 통해 제공되며, 서브픽셀내 리드아웃 트랜지스터의 제 2 전극에서의 전압은 셀렉터 EL 이미터의 특징을 나타내는 상태신호를 제공하기 위해 측정된다. 서브픽셀내 EL 이미터가 결함있는지 여부를 판단하기 위해 서브픽셀에 대한 상태신호가 이웃 서브픽셀들이 각각의 상태신호와 비교된다. 