A method for characterizing carbon nanotubes comprising: providing a conductive substrate and applying an insulating layer on the conductive substrate; forming a carbon nanotube structure on a surface of the insulating layer, the carbon nanotube structure includes at least one carbon nanotube; placing the carbon nanotube structure under a scanning electron microscope, adjusting the scanning electron microscope with an accelerating voltage ranging from 5˜20 KV, a dwelling time ranging 6˜20 microseconds and a magnification ranging from 10000˜100000 times; taking photos of the carbon nanotube structure with the scanning electron microscope; and, obtaining a photo of the carbon nanotube structure, the photo shows the at least one carbon nanotube and a background.
탄소 나노튜브를 특성화하는 방법으로서, 전도성 기판을 제공하고 상기 전도성 기판 상에 절연층을 적용하는 단계; 상기 절연층의 표면에 적어도 하나의 탄소나노튜브를 포함하는 탄소나노튜브 구조를 형성하는 단계; 상기 탄소나노튜브 구조체를 주사전자현미경 아래에 놓고 가속전압 5~20KV, 체류시간 6~20마이크로초, 배율 10000~100000배로 주사전자현미경을 조절하는 단계; 주사전자현미경으로 탄소나노튜브 구조를 촬영하는 단계; 그리고, 탄소 나노튜브 구조의 사진을 획득하고, 사진은 적어도 하나의 탄소 나노튜브 및 배경을 보여준다.