In described examples of self test logic for safety logic (100) in safety critical devices, the safety logic (100) includes comparator logic coupled to a master module (300) and a compare module (302) in a safety critical device, and the self test logic is configured to test the comparator logic. The self test logic may be implemented as a single cycle parallel bit inversion approach, a multi-cycle serial bit inversion approach, or a single cycle test pattern injection approach.
안전 중요 디바이스들에서의 안전 로직(100)에 대한 자체 테스트 로직의 설명된 예시들에서, 안전 로직(100)은 안전 중요 디바이스에서 마스터 모듈(300) 및 비교 모듈(302)에 결합된 비교기 로직을 포함하고, 자체 테스트 로직은 비교기 로직을 테스트하도록 구성된다. 자체 테스트 로직은 단일 사이클 병렬 비트 반전 접근법, 멀티-사이클 직렬 비트 반전 접근법, 또는 단일 사이클 테스트 패턴 주입 접근법으로 구현될 수 있다.