FEI Company (Nasdaq: FEIC), kondigden een belangrijke leverancier van atoom-schaalweergave en de analysesystemen, vandaag de versie van het aftasten/de transmissieelektronenmicroscoop de van Tecnai Osiris (tm) (S/TEM) aan, leverend revolutionaire analytische snelheid en prestaties. Het omvat de nieuwe technologie ChemiSTEM van FEI, die de tijd voor grote gezichtsveld elementaire afbeelding van uren aan notulen vermindert. Tecnai Osiris wordt ontworpen om deze doorbraak analytische productie met uitzonderlijke handigheid te combineren om aan de eisen ten aanzien van zowel high-volume industriële als voor meerdere gebruikers onderzoeklaboratoria te voldoen.
De octrooi-hangende technologie ChemiSTEM laat Tecnai Osiris toe om een factor van 50 of meer verhoging in snelheid van energie verbrokkelde x-ray (EDX) elementaire afbeelding te bereiken, door technische vooruitgang in straalgeneratie met vernietigende veranderingen in EDX signaalopsporing te combineren. Tecnai Osiris wordt op een platform voortgebouwd wordt ontworpen om productiviteit te maximaliseren en op investering in high-volume analyse terug te keren die.
Tony Edwards, de hogere ondervoorzitter van FEI van marktafdelingen, voegt, de "Adressen van Tecnai Osiris de behoeften van zowel ons onderzoek als industriële klanten die stijgend belang bij het elementaire samenstellingsanalyse en in kaart brengen van alle steekproeven plaatsen, maar tot nu toe toe, kon geen S/TEM met de vereiste analytische snelheid en de handigheid vinden om dit vereiste te steunen. Bijvoorbeeld, drijven de voortdurende daling van apparatengrootte en proliferatie van nieuwe materialen in halfgeleider productie, en de verschijning van meer steekproeven met onbekende samenstelling in onderzoekfaciliteiten voor meerdere gebruikers de behoefte die aan een S/TEM de handigheid van analytics EDX voorzien van een elementaire afbeeldingssnelheid vergelijkbaar met de weergave van de STAM."
Edwards voegt toe, "Tecnai Osiris werd ontworpen om dit huidige hiaat in de markt te vullen door elementaire afbeelding van grote gebied-van-mening te voorzien in notulen in plaats van uren, en zonder de behoefte aan een exploitant leidde hoogst in complexe analytics op. Deze handigheid wordt verder uitgebreid door de nieuwe SmartCam afstandsbedieninginterface, die deskundigen toelaat om verre raad in faciliteiten voor meerdere gebruikers of industriële aan minder ervaren exploitanten te geven."
De lijn Tecnai heeft een lange geschiedenis van prestaties en betrouwbaarheid als werkpaardhulpmiddel in industriële toepassingen. Tecnai Osiris, een 200 kilovolt (kV) S/TEM, zet de traditie Tecnai met de toevoeging van talrijke technische innovaties voort, die omvatten: ChemiSTEM, die uit de merkgebonden x-FEG hoog bron van het helderheidselektron en super-X bestaat, nieuw die EDX de opsporingssysteem van FEI op de technologie van de Detector van de Afwijking van het Silicium (SDD) wordt gebaseerd; Van MultiLoader (tm) de steekproef die die thermische evenwichtstijd na steekproefuitwisselingen door tien keer met evenredige verbeteringen van tijd-aan-gegevens vermindert behandelen; en de nieuwe fs-1 het verliesspectrometer van de elektronenenergie die van de het verliesspectrometrie van de elektronenenergie de snelheid (EELS) en de gevoeligheid verbetert; evenals andere verhogingen, zoals de SmartCam afstandsbedieningcamera, de vloeibare stikstoflevering met lange levensuur, en meer.
"Wanneer de revolutionaire analytische snelheid, de productie en de handigheid in een betrouwbare, voor alle doeleinden S/TEM kritiek zijn, is Tecnai Osiris de ideale oplossing," verklaart Edwards.
Tecnai Osiris S/TEM is beschikbaar voor onmiddellijk tot het opdracht geven. Voor meer informatie, gelieve te bezoeken: www.fei.com.