De Microscoop van de Kracht van Dimension® Icon® Atoom met ScanAsyst™ brengt nieuwe niveaus van prestaties, functionaliteit, en toegankelijkheid AFM aan nanoscaleonderzoekers in wetenschap en de industrie. Bouwend op het meest gebruikte de groot-steekproefAFM platform van de wereld, is het recentste systeem van de Afmeting het hoogtepunt van decennia van technologische innovatie, koppelt de klant en industrie-leidende toepassingsflexibiliteit terug. Het Pictogram is ontworpen van boven tot onder om revolutionaire lage afwijking te leveren en met geringe geluidssterkte die gebruikers toestaat om artefact-vrije beelden te bereiken in notulen in plaats van uren, toelatend verhoogde productiviteit.
Opnieuw Gedefinieerde Prestaties AFM en Productiviteit
Opnemend de recentste evolutie van de industrie-leidende uiteinde-aftastende technologie AFM van Bruker, geven de temperatuur-compenserende van het Pictogram AFM van de Afmeting positiesensoren geluidsniveaus in de sub-ångströmwaaier voor de z-As, en ångström in X-Y terug. Dit is buitengewone prestaties in een groot-steekproef, de waaiersysteem van het 90 micronaftasten, die de lawaaiprestaties van het meeste open-loop, high-resolution AFMs overtreffen.
Naast superieure resolutie, worden veel van de nieuwe eigenschappen van het Pictogram AFM van de Afmeting ontworpen specifiek om bruikbaarheid en productiviteit voor zowel nieuwe als deskundige onderzoekers te verhogen AFM:
- Het Merkgebonden sensorontwerp bereikt closed-loop prestaties met open-loop geluidsniveaus voor eerder unseen resolutie over groot-steekproef AFMs
- Closed-loop van XYZ van het nieuw-Ontwerp het hoofd levert hogere aftastensnelheid, zonder verlies van beeldkwaliteit, toelatend grotere productie voor gegevensinzameling
- De Recentste versie van software NanoScope biedt een intuïtief werkschema aan en blijft experimentwijzen in gebreke die geavanceerde processen AFM in preconfigured montages distilleren
- High-resolution camera en X-Y plaatsende vergunning sneller, efficiëntere steekproefnavigatie
- De Wijdopen toegang tot het uiteinde en de steekproef past een grote verscheidenheid van standaard en aangepaste experimenten aan
- De Hardware en de software nemen het meest volledige voordeel van alle huidige en toekomstige wijzen en technieken van Bruker AFM, met inbegrip van onze revolutionaire wijze van de Afbeelding van het Materiële Bezit van HarmoniX Nanoscale
De prestaties van het Pictogram van de Afmeting ongewone makkelijk te gebruiken, uiteindelijke, de uitzonderlijke productiviteit, en de superieure veelzijdigheid maken tot het de duidelijke keus voor praktisch elke toepassing AFM. Het is nooit zo gemakkelijk geweest om de gegevens zo veel van uitstekende kwaliteit zo snel te worden.