While it is primarily intended for data originating from scanning probe microscopy techniques (like AFM, MFM, STM, SNOM/NSOM), it may also be used for the analysis of profilometry data, for instance.
Während es primär für Daten aus verschiedenen Arten der Rastersondenmikroskopie (wie RKM, MKM, RTM, SNOM/NSOM) verwendet wird, kann es beispielsweise auch für die Analyse von profilometrischen Daten eingesetzt werden.