Diffraction contrast, in electron microscopes and x-topography devices in particular, is also a powerful tool for examining individual defects and local strain fields in crystals.
Контраст на дифракција, особено кај електронските микроскопи и уредите со x-топографија, е моќна алатка за испитување на поединечни дефекти и локални полиња во кристали.