修改为列举格式，按照测试点顺序列出内容：
1. TTL电平测试：测量信号的高电平和低电平值，以确保电路中的逻辑电平符合设计要求。
2. 输入噪声容限测试：通过测量电路耐受噪声的能力，检验电路的抗干扰性。
3. 静态功耗测试：在静态条件下检测设备的功耗，评估其能效。
4. 动态功耗测试：在动态工作模式下测量功耗，分析设备在高频工作状态下的能耗情况。
5. 传输延迟测试：测量信号通过电路的延迟时间，确保数据传输的及时性。
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1. TTL电平测试：测量信号的高电平和低电平值，确保电路逻辑电平符合设计要求。
2. 输入噪声容限测试：测量电路耐受噪声能力，检验抗干扰性。
3. 静态功耗测试：在静态条件下检测设备功耗，评估能效。
4. 动态功耗测试：在动态工作模式下测量功耗，分析高频工作状态下的能耗情况。
5. 传输延迟测试：测量信号通过电路的延迟时间，确保数据传输的及时性。
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