寸法測定の意味・用法を知る - astamuse
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寸法測定 の意味・用法を知る
寸法測定 とは、測定手段を特定しない測長装置 や光学的手段による測長装置 などの分野において活用されるキーワードであり、新日鐵住金株式会社 や株式会社日立国際電気 などが関連する技術を6,126件開発しています。
このページでは、 寸法測定 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
寸法測定の意味・用法
第１および第２のスキャナの配置は、 寸法測定 されるべき物体が移動可能な測定領域の幅を規定し、第１および第３のスキャナの配置は、測定領域の長さを規定する。
公開日：2017/09/21
出典：測定領域内を移動する車両によって運ばれる物体を寸法測定するための装置および方法
出願人：メトラートレドアクチェンゲゼルシャフト
ウェットエッチング法で、水晶ウエハーに複数の水晶振動子を形成する水晶振動子の製造方法であって、水晶振動子は、少なくとも一つの凹部を備え、水晶ウェハー上には、複数の水晶振動子とともに 寸法測定 部が設けられ、水晶振動子の外形を形成する外形エッチング工程と、水晶振動子に凹部を形成する凹部エッチング工程とを備え、凹部エッチング工程における寸法測定部の耐蝕膜の寸法変化量から、エッチングレートを算出し、凹部エッチング時間を決定する水晶振動子の製造方法。
公開日：2014/10/09
出典：水晶振動子の製造方法
出願人：シチズンファインテックミヨタ株式会社
指標値を取得する工程では、信号強度分布を、パターンの 寸法測定 方向に沿って、信号ピークを境とする領域に分割し、各領域における信号強度分布の傾きを指標値として取得する。
公開日：2013/09/09
出典：ＳＥＭ画像適否判定方法、ＳＥＭ画像適否判定装置
出願人：凸版印刷株式会社
試料台に載置した試料の表面に、所定の荷重を負荷した圧子を押込んでくぼみを形成する硬さ試験方法において、１つのくぼみに対して所定の時間間隔毎にくぼみ寸法を測定する 寸法測定 工程（ステップＳ１１、ステップＳ１２）と、寸法測定工程により測定したくぼみ寸法を用いて、くぼみの大きさの時間による変化率を算出する変化率算出工程（ステップＳ１３）と、を有する。
公開日：2011/08/25
出典：硬さ試験方法及び硬さ試験機
出願人：株式会社ミツトヨ
基準面とは、ある部位の寸法設定や 寸法測定 の際に基準として用いられる面である。
公開日：2011/10/20
出典：テープカセット
出願人：ブラザー工業株式会社
本発明は、測定対象（１）に侵襲性放射が照射される、測定対象（１）を検査するための方法及び装置に関し、その際、放射線源（３）からの侵襲性放射の相互作用が、放射感受性を有するセンサ装置（６）を用いて検出され、その際、センサ装置（６）の期待検出結果が、測定対象（１）の設定形状寸法を用い、かつ材料特性を用いて算定装置（１３）によって算定され、及び／又は期待検出結果が、マスタ部品を 寸法測定 することによって得られ、該期待検出結果が、センサ装置（６）の実際の検出結果と比較装置（１１）によって比較される。
公開日：2008/12/11
出典：侵襲性放射を用いて測定対象を検査するための方法及び装置
出願人：カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー
被測定物２の寸法を測定する 寸法測定 装置１であって、被測定物２を搬送する搬送手段５と、被測定物２が搬送される搬送領域１０，１１内の温度を制御する温度制御手段と、搬送領域１０，１１における測定部６に搬送された被測定物２の寸法を測定する寸法測定手段１５と、寸法測定手段による寸法測定時の被測定物２の温度を測定する温度測定手段１４とを備え、寸法測定手段１５によって測定された被測定物２の寸法は、温度測定手段１４によって測定された温度を用いて、予め定められた基準温度における寸法に補正される。
公開日：2008/10/16
出典：寸法測定装置及び寸法測定方法
出願人：カヤバ工業株式会社
異材を精度良く判定可能な管の異材判定方法を提供する。 本発明に係る異材判定方法は、 寸法測定 工程で１本毎に測定した管の長さと、当該管に紐付けられた、実貫・測長工程で測定した管の長さとを比較して、異材の有無を判定するステップと、重量算出工程で１本毎に算出した管の重量と、当該管に紐付けられた、実貫・測長工程で測定した管の重量とを比較して、異材の有無を判定するステップと、材質判定工程で１本毎に判定した管の材質に基づいて、異材の有無を判定するステップとを含む異材判定工程を有することを特徴とする。
登録日：2009/04/03
出典：管の異材判定方法
出願人：新日鐵住金株式会社
寸法測定 時には測定台を固定して、寸法測定精度を向上させる。
公開日：2005/03/17
出典：物品の寸法重量測定装置
出願人：新光電子株式会社
顕微鏡とこれにより形成され被写体の光像を撮像する撮像装置とを組み合わせ、 寸法測定 等の画像処理を行う装置において、段差があり、複雑なパタ−ンで構成される被写体像でも、常に、処理対象となる被写体像に対して高精度の焦点を検出することができる自動焦点検出方法を提供する。
公開日：2003/03/05
出典：画像処理システム
出願人：株式会社日立国際電気
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寸法測定の原理 に関わる言及
しかして、光学式測定方法および光学式測定装置においては、例えば、被測定材の外形 寸法測定 または軸振れ量の測定がなされる。その場合、平行光に対する被測定材の傾きを補正して被測定材の外形寸法測定をなすこともできる。
公開日： 2001/11/16
出典： 光学式測定方法および光学式測定装置
出願人： 大同特殊鋼株式会社
なお、一括測定過程の 寸法測定 過程で寸法を測定した被測定個所については、個別測定過程の測定過程を実施しても同じ寸法が求まると考えられる。したがって、この被測定個所の補正値はゼロとしてよく、測定過程を実施する必要はない。
公開日： 2009/05/14
出典： 寸法測定方法
出願人： 株式会社ミツトヨ
この際、 寸法測定 作業を行うオペレータが、測定パターンを示した図面と被測定パターンとを視認により対比しながら寸法測定を行う場合、測定毎に被測定パターンが異なるので、測定効率が悪いという問題があった。
公開日： 2003/04/04
出典： ＬＳＩパターンの寸法測定箇所選定方法
出願人： 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社
次に、このように構成された 寸法測定 装置Ｍによる寸法測定について、図３および図４を参照しながら説明する。なお、距離測定手段１の測定部１１は、図の左側から第１測定部１１Ａ、第２測定部１１Ｂおよび第３測定部１１Ｃの順に配列されているものとする。
公開日： 1996/01/12
出典： 円形物体の寸法測定方法および寸法測定装置
出願人： 川崎重工業株式会社
直方体状の物品が傾いて搬送され、かつ、物品が変形している場合においても、安定して精度よく 寸法測定 が可能な寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定プログラムの提供を目的とする。
公開日： 2009/04/09
出典： 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定プログラム
出願人： 日本電気株式会社
寸法測定の問題点 に関わる言及
先ず、測定具を用いて人手により 寸法測定 を行うものでは、測定作業が煩雑であり、測定者の熟練度によって測定精度にばらつきが生じてしまって信頼性の高い寸法測定を行うことができない。
公開日： 2001/11/09
出典： 寸法測定装置及び寸法測定方法
出願人： 積水化学工業株式会社
電線外径の変化を 寸法測定 器により精密に測定する。この場合寸法測定器としてデジタル寸法測定器を使用すると寸法測定が容易である。そして、外径変化から電線内への防水剤の浸透度合いを検査し、確認する。
公開日： 2008/03/06
出典： 防水剤の浸透促進方法及び防水剤の浸透検査方法並びに電線の防水処理方法
出願人： 古河電気工業株式会社
光学式測定機における 寸法測定 において、光透過性物質からなる測定用治具を用いることによって、測定用治具を容易に精度良く作成出来、かつ、測定精度の高い下方からの光を使用した寸法測定を、効率よく実施することが可能になる。
公開日： 1998/01/16
出典： 光学式測定における測定用治具
出願人： ＴＤＫ株式会社
ＬＥＤからの光を小孔で絞ると共に、拡散部材によって拡散させるようにしたから、非常に小さな光点から光強度の指向性の弱い光を照射する測定用の点光源を形成することが可能となり、光学測定用測定点部材を使用した被測定物の 寸法測定 時、非常に高精度な寸法測定が可能となる。
公開日： 1994/07/26
出典： 光学測定用測定点部材
出願人： 三洋機工株式会社
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（ 分野番号表示 ON ）※整理標準化データをもとに当社作成
2F069 測定手段を特定しない測長装置
2F069AA00 測定内容
2F069BB00 測定対象物の種類
2F069CC00 測定対象物の形状
2F069DD00 目的
2F069EE00 補正；補償
2F069FF00 較正；調整
2F069GG00 測定方式
2F069HH00 測定器機
2F069JJ00 走査
2F069KK00 測定環境
2F069LL00 フィーラー；スピンドル
2F069MM00 特定の構造について言及するもの
2F069NN00 信号処理
2F069PP00 測定の前処理
2F069QQ00 表示
2F069RR00 その他
2F069SS00 ねじの測定
2F069TT00 歯車の測定
2F065 光学的手段による測長装置
2F065AA00 測定内容
2F065BB00 対象物１（形態；性質）
2F065CC00 対象物２（個別例）
2F065DD00 目的
2F065EE00 補償；補正
2F065FF00 測定方法
2F065GG00 光源
2F065HH00 入射光
2F065JJ00 受光部
2F065KK00 観測方式
2F065LL00 光学系
2F065MM00 走査形態
2F065NN00 制御
2F065PP00 装置全体の構造
2F065QQ00 信号処理
2F065RR00 比較基準データの作成，設定
2F065SS00 指示；記録
2F065TT00 操作
2F065UU00 特に重要な点
2F067 波動性または粒子性放射線を用いた測長装置
2F067AA00 測定内容
2F067BB00 対象物の形状，材質，種類
2F067CC00 対象物（具体例）
2F067DD00 測定対象物構成物質，構成元素
2F067EE00 目的
2F067FF00 補正，補償，校正，調整
2F067GG00 標準，基準
2F067HH00 対象物入射粒子，波動，線源，管
2F067JJ00 対象物出射粒子，波動
2F067KK00 利用，言及された現象，測定手法
2F067LL00 検出器関連
2F067MM00 分光
2F067NN00 走査形態
2F067PP00 載置・搬送，保持，支持関連
2F067QQ00 制御
2F067RR00 信号処理，電源関連
2F067SS00 指示，記録
2F067TT00 対象物，標準物への処理，操作に言及
2F067UU00 機能要素，技術事項，マイクロ波回路素子
2F062 機械的手段の使用による測定装置
2F062AA00 測定内容
2F062BB00 測定対象物の形状
2F062BC00 測定対象物の品名
2F062CC00 目的
2F062DD00 補正，補償，較正，調整
2F062EE00 測定方法
2F062FF00 走査
2F062FG00 駆動，送り機構
2F062GG00 測定機器
2F062HH00 プローブ，測定子
2F062JJ00 検出値の処理
2F062KK00 検出値の伝送
2F062LL00 表示，記録
2F062MM00 測定の前処理
2F062NN00 測定の後処理
4M106 半導体等の試験・測定
4M106AA00 対象
4M106AB00 チェック素子の細部
4M106AC00 テスト用回路
4M106AD00 パッド（電極）
4M106BA00 手段
4M106CA00 検査内容（１）
4M106CB00 検査内容（２）
4M106DA00 不良素子識別装置
4M106DB00 外観・パタ−ン検査装置
4M106DC00 リード検査装置
4M106DD00 ウェーハ・プローバ（接触型検査装置）
4M106DE00 テスター（非接触型検査装置）
4M106DG00 ハンドラ装置
4M106DH00 その他の検査装置
4M106DJ00 装置の共通部
5F046 半導体の露光（電子、イオン線露光を除く）
5F046AA00 半導体の露光の共通事項
5F046BA00 紫外線，光露光の種類
5F046CA00 紫外線，光露光用光源
5F046CB00 光学系
5F046CC00 ステージ，チャック機構，及びそれらの動作
5F046CD00 ウェハ，マスクの搬送
5F046DA00 露光の制御，調整の対象，内容
5F046DB00 検知機能
5F046DC00 検知機能の取付場所
5F046DD00 制御，調整に関する表示，情報
5F046EA00 位置合わせマーク
5F046EB00 位置合わせマークの配置
5F046EC00 位置合わせマークの特殊用途
5F046ED00 位置を合わせるべき２物体上のマーク
5F046FA00 位置合わせマークの光学的検出
5F046FB00 検出用光学系
5F046FC00 位置合わせマークの検出一般及び検出の補助
5F046GA00 Ｘ線露光
5F046GB00 Ｘ線光学系
5F046GC00 Ｘ線源
5F046GD00 Ｘ線露光用マスク
5F046HA00 レジスト塗布以前のウェハの表面処理
5F046JA00 レジスト塗布
5F046KA00 ベーキング装置
5F046LA00 湿式現像，リンス
5F046LB00 ドライ現像
5F046MA00 レジスト膜の剥離
5F046NA00 多層レジスト膜及びその処理
5F046PA00 光の吸収膜，反射膜
5F146 半導体の露光（電子、イオン線露光を除く）
2H097 ホトレジスト感材への露光・位置合せ
2H097AA00 露光方式
2H097AB00 原版或いは感材移動露光
2H097BA00 露光装置の構造、制御
2H097BB00 露光部の制御
2H097CA00 光源
2H097DA00 原版の露光機への給送
2H097DB00 感材の露光機への給送
2H097DC00 露光終了後の原版、感材搬送部
2H097EA00 原版と感材とに関連する介在物
2H097FA00 露光される感材の種類、構造、形状
2H097GA00 密着露光
2H097GB00 投影露光
2H097HA00 露光前の感材処理
2H097HB00 露光後現像前の感材処理
2H097JA00 その他（露光に関連するもの）
2H097KA00 位置合せ
2H097LA00 用途（露光、位置合せ）
2F047 検量；特殊材料重量測定
2F061 機械的手段による測長計器
2F061AA00 測定内容
2F061BB00 測定対象物の形状
2F061CC00 測定対象物品名
2F061DD00 目的
2F061EE00 補正，補償，較正，調整
2F061FF00 測定子
2F061GG00 測定方法
2F061HH00 変換・伝達部
2F061JJ00 表示
2F061LL00 尺体
2F061MM00 測定ホイール
2F061NN00 輪郭測定用型板
2F061PP00 コンパス
2F061QQ00 マイクロメータ
2F061RR00 スライドゲージ
2F061SS00 フィーラピンゲージ
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