Аппроксимация дифрактограмм порошков нанографитов с учетом радиальной зависимости межатомных расстояний
Представлены основные контуры процедуры определения размеров, структурных параметров и процентного содержания нанографитов в их порошках путем полнопрофильной аппроксимации дифрактограммы образца с помощью набора профилей рентгеновской дифракции порошков модельных нанографитов. Показано, что использование модельных нанографитов с учетом радиальной зависимости межатомных расстояний в слое и зависимости межплоскостного расстояния от количества атомов в слое позволяет описать дифрактограмму порошка нанографитов в широком угловом диапазоне, включая так называемый малоугловой γ-пик без предположений о наличии в нем других структур.