Метод и алгоритмы экстракции эквивалентных первичных параметров связанных линий с потерями и дисперсией
Решена задача экстракции эквивалентных первичных параметров в виде матриц L, C, R, G связанных линий (СЛ) различных типов (полосковых, коаксиальных, витых пар). Исходными данными являются измеренные матрицы рассеяния отрезков СЛ, нагруженных на известные сопротивления. Измерения проводятся в нескольких характеристических режимах возбуждения. Разработаны метод и алгоритмы, позволяющие восстанавливать первичные параметры СЛ. Точность определения первичных параметров определяется погрешностями измерения матрицы рассеяния. Приведены экспериментальные результаты экстракции первичных параметров витой пары в экранирующей оболочке. Показано, что первичные параметры существенным образом зависят от частоты. Использование получаемых первичных параметров позволяет более точно моделировать устройства ВЧ- и СВЧ диапазонов, включающие отрезки связанных линий с потерями и дисперсией.