РАСЧЕТНЫЙ МЕТОД ОЦЕНКИ СТОЙКОСТИ БИПОЛЯРНЫХ ПРИБОРОВ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ НИЗКОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ И ИСПОЛЬЗОВАНИЕ КОНВЕРСИОННОЙ МОДЕЛИ
Проведен расчет показателя степени m показательной функции, используемой в отечественных расчетных методиках (руководящий документ РД В 319.03.37-2000 и отраслевой стандарт Российского космического агентства ОСТ 134) для оценки стойкости биполярных интегральных микросхем к воздействию низкоинтенсивного излучения космического пространства. Расчет выполнен с использованием аналитического соотношения, вытекающего из конверсионной модели эффекта низкой интенсивности в биполярных приборах. Показано, что применение универсального значения показателя степени m = 0,26 не получило экспериментального подтверждения для большинства исследованных приборов.