СТОЙКОСТЬ ПЕРСПЕКТИВНЫХ ТЕХНИЧЕСКИХ СРЕДСТВ ОБРАБОТКИ ИНФОРМАЦИИ НА БАЗЕ НАНОСТРУКТУРНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ К ВНЕШНЕМУ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОМУ ВОЗДЕЙСТВИЮ
В работе представлены обобщенные данные по величинам стойкости технических средств обработки информации (ТСОИ) по отношению к мощному электромагнитному воздействию. Даны прогнозные оценки стойкости перспективных ТСОИ, использующих перспективную наноэлектронную элементную базу. Показано, что использование одноэлектронных наноэлементов может привезти к существенному (на 2-3 порядка) снижению электромагнитной стойкости перспективных ТСОИ по сравнению с ТСОИ, построенных на основе современной микро- и наноразмерной электронной базе.