ИССЛЕДОВАНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК СКВАЖИННЫХ ГАММА-ПЛОТНОМЕРОВ-ТОЛЩИНОМЕРОВ
Для аппаратуры СГДТ и ЦМ предложен способ построения градуировочных характеристик, то есть плотности заколонной среды и толщины стенки колонны в виде функций двух переменных: относительного выходного сигнала интегрального канала плотномера и относительного выходного сигнала канала толщиномера.