ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРИМЕНЕНИЯ ОПТОЭЛЕКТРОННОГО МЕТОДА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СВЕТОВОДОВ ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВЕННЫХ ПАРАМЕТРОВ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ
В статье рассмотрен один из импульсных методов волоконной оптики метод рефлектометрии или метод обратного рассеяния для контроля качественных параметров металлических поверхностей.