Анализ кристаллогеометрии тетрагонального мартенсита в сплавах индий-кадмий методом дифракции обратно отражённых электронов
Анализ с использованием метода дифракции обратно отражённых электронов показал, что при охлаждении ниже температуры мартенситного ГЦК→ГЦТ-превращения в сплаве In - 4,5 мас.% Cd образуется пакетная структура, состоящая из колоний тетрагональных пластин-ламелей. На основании полученных данных можно заключить, что строение пакета, состоящего из двойниковых пластин, и строение отдельной мартенситной пластины, состоящей, в свою очередь, из субмикродвойников, подчиняется общим закономерностям. На каждом структурном уровне в группе соседних областей обнаруживаются структурные элементы трёх сортов, различающиеся направлением оси тетрагональности.