МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА АНТИРЕЛАКСИРУЮЩЕГО ПОКРЫТИЯ В ОПТИЧЕСКИХ ЯЧЕЙКАХ
Предложен простой метод определения качества антирелаксирующего покрытия стенок вакуумных оптических ячеек, содержащих пары щелочных металлов. Метод состоит в регистрации временнóй зависимости интенсивности флуоресценции щелочных атомов при облучении ячейки импульсами резонансного излучения. Теория предсказывает, что для определения качества покрытия достаточно знать скорость затухания флуоресценции и отношение интенсивностей флуоресценции в начале и в конце лазерного импульса.