Контроль распределения раствора на развитой метаповерхности методами эпи-люминесцентной микроскопии
Предложен способ анализа пространственного распределения раствора исследуемого вещества на подложке с развитой наноструктурированной поверхностью (металлизированной метаповерхности) на основе техники эпи-люминесцентной микроскопии. Данный способ может быть использован для расчета коэффициента усиления SERS-сигнала на сложной развитой поверхности, где неприменимы стандартные методики оценки количества вещества. Для коллоидного раствора полупроводниковых квантовых точек CdSe/CdS/ZnS на поверхности трековой мембраны с серебряными дендритными наноструктурами было обнаружено изменение смачиваемости поверхности в зависимости от количества и размеров дендритов на ней.