Численное моделирование магнитной микроструктуры нанокристаллических тонких пленок со случайной анизотропией
Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6-1000 нм исследованы зависимости параметров корреляционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиусов стохастической магнитной структуры вдольипоперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдалсяэффектблокировки тонкой магнитной структуры «ряби намагниченности».