РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ЛИТИРОВАННОГО ГРАФИТА, ПОЛУЧЕННОГО ТЕРМИЧЕСКИМ НАПЫЛЕНИЕМ ЛИТИЯ
Методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС), рентгеновской эмиссионной спектроскопии (РЭС) и спектроскопии ближней тонкой структуры рентгеновского поглощения (NEXAFS) проведено in situ исследование электронного строения литированного природного графита, полученного методом термического напыления лития на графит в вакууме. С помощью РФЭС и NEXAFS спектроскопии установлено, что термическое осаждение паров лития приводит к формированию поверхностного литированного слоя графита и к изменению его электронного строения. Из квантово-химического моделирования экспериментального РЭС СKα-спектра литированного графита установлено, что атомы лития преимущественно локализуются на краях графитовых фрагментов. Методом атомно-силовой микроскопии выявлено, что размер чешуек природного графита варьируется от 50 до 200 нм.