hat
X-ray enspeksyon, paralèl nan eleman yo nan 360 ° tout-wonn obsèvasyon an, pou detèmine estrikti entèn la nan eleman ki sou tès ak estati koneksyon pake, ou ka wè yon gwo kantite echantiyon anba tès yo se menm bagay la, oswa yon melanj (Melanje-Up) pwoblèm yo leve; nan adisyon yo genyen ak espesifikasyon yo (Datasheet) youn ak lòt pase yo konprann kòrèkteman nan echantiyon an anba tès la. Koneksyon estati nan pake a tès, yo aprann sou koneksyon an chip ak pake ant broch se nòmal, eskli kle a ak louvri-fil kout-sere.
aze
X-ray müayinəsi, 360 ° yaxud hərtərəfli müşahidə içərisindəki komponentlərin keçməsi, test altında olan komponentlərin daxili quruluşunu və paketi əlaqəsi vəziyyətini müəyyən etmək üçün test altında çox sayda nümunə eynidır və ya bir qarışıq (Qarışıq-Up) problemlər yaranır; Bundan əlavə, testlər zamanı nümunənin düzgünlüyünü anlamaqdan başqa bir-birindən (Texniki Məlumat) xüsusiyyətləri var. Test paketinin əlaqənin vəziyyəti, pinlər arasında çip və paketin əlaqələndirilməsi haqqında məlumat almaq normaldır, əsas və açıq telli qısa dövrəyə yol verilmir.