ナノ表面計測事業部は、ナノプローブテクノロジー第167委員会の企業会員です。1つであり、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎・応用技術の組織的発展を目標に活動しています。300は、細胞-細胞、細胞-組織、細胞-基板間の相互作用を1分子レベルで高感度に測定するための理想的なツールです。その高感度測定により、生きた生体システムの構造、形態、ナノ力学的特性を迅速かつ容易に取得でき、さまざまな病理疾患におけるそれらが果たす役割について重要な知見が得られます。自動化機能によるスループットの向上を可能にし、生物医学や臨床研究に必要な生産性と高いパフォーマンス、統計的有意性を実現します。生理的条件下における生体試料のナノ力学計測が可能に。多層の細胞構造や、柔らかくトポグラフィーの高い組織サンプルに最適です。組織生検に最適な、広いサンプルエリアでの迅速かつシンプルな測定領域が選択可能に。評価を行うシステムです。単一細胞フォーススペクトロスコピー(SCFS)として知られているこの革新的な技術は、カンチレバーに取り付けられた生細胞と、ターゲット細胞あるいは修飾された基板、生体組織、バイオマテリアル間の相互作用を測定します。同時に粘弾性を含むセルメカニクス特性も算出できます。様々なアクセサリーをもつ自由度の高いシステムとなっています。2023展示会において、米国ブルカーコーポレーションは本日、2種の新しい白色光干渉計(WLI)システム、ContourX-1000とNPFLEX-1000光学式プロファイラを発表しました。これらの床置き型プラットフォームシステムは、表面テクスチャ・粗さ・うねりの高速自動測定を可能にします。Surface)は、測定前に手作業での焦点合わせを行う複雑さを解消し、使いやすさと測定結果を得るまでの時間を向上させます。インターフェースとの組み合わせにより、このユニークな機能はあらゆる表面で妥協のない測定と高いスループットを実現します。大量生産設備に最も正確で精密な計測を提供します。精密加工のQA/QCにおいて、大型パーツの難しい局所表面へのアクセスを可能にする独自のゲージング対応ソリューションを提供します。シニアディレクター兼ゼネラルマネージャーであるサミュエル・レスコは、「ブルカーの光学プロファイラのポートフォリオは、業界をリードする機能性、迅速な測定結果、並外れた使いやすさを長年にわたって実現しています。専門家でないユーザーでも、通常のシステムで数分かかるところを数秒で結果が得られる可能性があることを考えると、この能力はさらに向上しています。」とコメントしています。3D光学式プロファイラについて】ContourX-1000は、ブルカー特許のチップ/チルトヘッド、自己校正レーザーリファレンス、パターン認識、レシピの携帯性という業界に特化した組み合わせを特徴としています。Interferometry法:USI)自己適応型測定モードは、最適な測定モードを自動的に決定し、ガイド付きで簡素化されたVisionXpressインターフェースは、解析品質をユーザーの経験レベルから切り離すことが可能です。このハードウェアとソフトウェアのユニークな組み合わせにより、最良の計測結果を最短時間で得ることができ、研究開発や製造に最大限の安定性とツール間のマッチング機能をもたらします。3次元光学プロファイラについて】NPFLEX-1000は、ContourX-1000の使いやすさをそのままに、大型のガントリと堅牢なブリッジ構造を採用した製品です。NPFLEX-1000は、対物レンズの下に300mm以上のZスペースを確保し、スイベルヘッドと超作動距離対物レンズにより、究極のサンプルサイズの柔軟性を提供します。オプションのフォールドミラーにより、サンプルの高スロープ傾斜面や側面へのアクセスも大幅に向上しました。10秒以内の高速自動測定と完全な解析は、生産環境におけるスループットの重要な向上につながります。※本資料は2023年1月31日(現地時間)に米国ブルカーコーポレーションが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。IconIRTMナノスケール赤外分光・ケミカルイメージングシステムをリリースしました。nm分解能のケミカルおよびマテリアル特性マッピングで、業界に新しい基準を確立します。Tapping®モードを搭載した新しい大型サンプルプラットフォームは、定量的なナノケミカル、ナノメカニカルおよびナノエレクトリカル特性評価ソリューションを提供します。ライフサイエンスなど幅広い分野で画期的な研究を可能とします。nm分解能のナノ赤外分光法とマテリアル特性マッピング技術を組み合わせることが可能となった。この新しい技術により、数nmレベルでブレンドポリマーの化学構造を容易に識別できる。非常に高感度なタッピングAFM-IRモードにより、力学的な不均一性を持つ複雑なシステムの探求をも可能とする。Dawsonは次のように述べています。「この新しいプラットフォームは、従来のAFM-IR技術では分析できなかった対象に対しても、材料の化学構造やその組成をナノレベルで深く理解することを可能とします。網羅的な分析は、最先端の学術・産業研究を牽引する大きなドライビングフォースとなるでしょう。IconIRは、ナノスケール赤外分光分析装置と走査型プローブ顕微鏡とを組み合わせたシステムで、数十年にわたる研究と技術革新の結実として、ナノ赤外分光法として最高の性能と機能を提供します。IconIRは、単一のシステムで、ナノスケールのスペクトル分析、ケミカルイメージング分解能、そしてその感度において最高のパフォーマンスを提供します。優れた性能と機能を踏襲しつつ、あらゆる試料に対する柔軟性を提供します。mmまでの試料に対応しており、より大きな試料向けの機種も用意されています。AFM-IRモードは、世界で最も包括的なものであり、何百もの原著論文がすでに報告されており、世界をリードするnanoIR技術の成功が証明されています。その多くの研究成果から、nanoIRにより得られるスペクトルとケミカルイメージングは、従来のFTIRと高い相関性が示されてます。IconIRは、Dimensionプラットフォームで定評のあるアクセサリーやSPMモードをフルに活用し、材料研究のための最も先進的なナノスケールキャラクタリゼーションシステムとなっています。※本資料は2021年10月18日(現地時間)に米国ブルカーコーポレーションが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。PicoIndenterTMのリリースを発表しました。この装置では弊社従来のシステムに比べ、SEM(走査型電子顕微鏡)内でより高負荷かつ過酷な環境下で試験が可能であり、高強度な材料の変形メカニズムの理解に役立ちます。新しい本システムはBrukerの高性能コントローラーと独自のトランスデューサーおよび独自の変位コントロールテクノロジーを組み合わせることで幅広い試験に対応致します。Tilt(回転傾斜)ステージを備えた世界最初のin-situシステムです。これにより、SEM観察を行う際のサンプル位置決め、ミリング用のFIBカラムへの傾き調整、結晶方位の向き調整のための回転および複雑な材料の構造と特性の相関性の研究を可能にする幅広い検出器との互換性を実現します。Thompsonは述べています。Davamiは以下のように述べています。(EBSD)などと組み合わせることでこれまでにない構造特性の情報を得ることが可能になります。このことは複数の研究プログラムのサポートになります。Warrenは次のように述べています。PI89は、電子顕微鏡内でのin-situナノインデンテーション装置の先駆けとして開発された我々のPicoIndenterシリーズに魅力的な製品として加わりました。PI89は優れた汎用性、使いやすさ、高荷重試験を実現する剛性を備えています。いくつかの特許取得済の機能により、SEM中で最も幅広い試験を行うことのできる柔軟性と業界をリードするパフォーマンスをお客様に提供します。この次世代機が可能にする新たな研究を楽しみにしています。PicoIndenterシステムの最新機です。ブルカーの最先端のトランスデューサー技術に基づいて構築されたPI89は、研究者に並外れた性能と汎用性を提供するという強力な機能を有します。マッピング(XPM)、疲労試験、ナノトライボロジー、Push-to-Pullデバイス(特許取得済み)を用いた薄膜およびナノワイヤーの引張試験、直接的な引張試験、SPMイメージング、電気的特性評価モジュール、高温試験(特許取得済み)、回転および傾斜ステージ(特許取得済み)、EBSD・EDS・CBD・TKD・STEMなどの分析技術との互換性を提供します。Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。ContourXの発売を発表しました。この白色光干渉法(WLI)プラットフォームは、最高の測定結果を得るために最適な測定パラメータを自動的に決定するユニバーサルスキャンモードであるブルカーの新しいUSIモードと、低ノイズ測定とクラス最高のサブナノメートルZ分解能を実現するアドバンストPSIモードを搭載しています。5MPカメラと新しいステージ設計により、大面積のスティッチングが大幅に向上し、1000個の高解像度スティッチングフィールドの収集が可能になりました。ための高精度測定から、新しい材料構造の研究や製造された部品の特性評価まで、多くの要求の厳しい研究・産業用途での利便性と生産性の向上を可能にします。ブルカーのトライボロジー、スタイラス、オプティカル・メトロロジー・ビジネスのバイスプレジデント兼ゼネラルマネージャーであるケント・ヒースは、「初代Wykoの開発から始まり、40年以上にわたり高精度表面計測とイメージングの革新を続けてきたブルカーのオプティカル・プロファイラー(三次元表面形状粗さ計)は、倍率に依存しない最高のZ軸分解能と、最も困難な表面形状に対して最大の視野で最速の測定を可能にしたことで知られるようになりました。"この技術ができることの限界を押し広げることで、ContourXシステムはベンチトップの形でこれまで達成できなかった測定機能を提供します」と述べています。ContourXは、特に新しいUSIモードを考慮すると、表面測定の性能を飛躍的に向上させています。マイクロエレクトロニクス、光学、センサーの生産性とナノスケールの表面粗さとトポロジー測定の新たなベンチマークとなるでしょう」と、グローバルプロダクトマネージャーのロバート・シドは付け加えています。3D光プロファイラーについて】ContourXシリーズのプロファイラーは、Bruker独自のWLI技術の進歩を利用して、業界で最も高性能なベンチトップ計測と最も使いやすい表面測定ソフトウェアを提供します。3つのベンチトップモデルで利用可能なContourXプロファイラーは、新しい堅牢なデザインを特徴とし、個々の計測と予算の要件に合わせて最適化された機能と価格帯を提供します。新しいハードウェア機能には、より大きなスティッチング機能のための革新的なステージデザインや、低ノイズ、より広い視野、より高い横方向の解像度を実現する1200x1000の測定アレイを備えた5MPカメラなどがあります。新しいUSIモードとアドバンストPSIモードに加えて、ソフトウェアの拡張機能として、ブルカーの新しいVisionXpressインターフェースが搭載されています。最新バージョンのVisionMAPソフトウェアは、カスタマイズされたレポート作成機能と高度な分析ソリューションの実装により、これらの機能をさらに補完します。Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。NanoRacerをリリースしました。NanoRacerは毎秒50フレームという圧倒的なイメージング速度を誇り、AFMの歴史に打ち立てられた新たなマイルストーンに到達しました。NanoRacerを使用することで、ユーザーは誰でも生命現象の動的プロセスの真の単一分子・リアルタイム観察が可能となります。医療関連分野において,単一分子の振る舞いや分子反応のダイナミクス解析にNanoRacerを用いることで、現象に対するより深い理解につながるデータの獲得が可能となります。金沢大学ナノ生命科学研究所(WPI-NanoLSI)の安藤敏夫特任教授は、「生体分子には未解明な点がまだまだ数多く残されており、その解明には機能活動中の個々の分子を直接観察する必要があります。今回発表された高速AFM『NanoRacer』は,最速の製品で、生体分子を直接リアルタイムで観測する性能を有し、また、簡単な操作と高いパフォーマンスを実現するための多くの革新的なアイデアが盛り込まれています。多くの研究者がこのNanoRacerを使ってエキサイティングな発見に出会うことを願っています。」と述べていますブルカーBioAFMグループの最高責任者トルステン・ヤンケは、「NanoRacerは、高速AFM領域におけるブルカーのイノベーションの集大成であり、その性能と使いやすさ双方の観点から、NanoRacerは単一分子観察のためのハイエンドなAFMマーケットに革命を起こすと言う強い信念があります。研究者にとって、分子ダイナミクスの直接観察から、分子構造と機能との相関に対しより深く正確な理解をもたらすAFMツールとなるであろう。Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。10,000ピクセルの条件下にて秒間50フレームのイメージングを実現します。光熱励振機能や,新しい高分解能XYZフレクシャースキャナー、そして,その各軸に低ノイズ位置センサーを搭載したNanoRacerは、ハイエンドの研究用AFMとして新たなベンチマークを打ち立てました。最高感度の力検出能と高い空間分解能、そして最高の安定性を兼ね備えたNanoRacerは、分子・ナノスケールの高度なアプリケーションや卓越した発見の原動力となることでしょう。2と直感的で分わかりやすいユーザーインターフェースを備えたソフトウェアが搭載されており、自動化されたセットアップ機能やマルチユーザー環境に最適化されたシステムにより、研究者は実験にのみ集中することができます。10,000ピクセルの条件下にて秒間50フレームのイメージングを実現します。ハイエンドの研究用AFMとして最高感度の力検出能と高い空間分解能、最高の安定性を兼ね備えています。2と直感的な操作を提供するソフトウェアの搭載により、自動セットアップ機能やマルチユーザー環境に対応します。TriboLabTMトライボロジー評価装置用の高速振動試験モジュール(HFRR)の発売を発表しました。新しいHFRRモジュールは、TriboLabシステムにセットアップすることにより、幅広い潤滑剤及び、材料の効果的なスクリーニングを可能にします。伝統的に、エンジンやリニアコンプレッサーのような往復システムでの表面や潤滑剤のテストは、最終的なコンポーネントテストの前に実験室規模での要素的な摩擦評価を必要とします。D6245などの標準プロトコルのシミュレーションがベンチトップスケールで可能となり、極僅かな摩擦の挙動を監視しながら、シミュレーション条件下で潤滑剤や材料の性能をランク付けできます。Ramirez博士は、次のように述べています。TriboLabの高速振動試験は、エンジンやコンプレッサーなどの往復摺動部に使用される材料や潤滑油を評価するために、正確で一貫した技術として開発されました。TriboLabはその柔軟性により、様々なモジュールをセットアップ出来るという利点があり、容易に摺動形態や速度・圧力といったパラメーターを変更することが出来るため、標準化されたプロトコルを使用するよりも多くの可能性が広がります。Earle氏は、次のように述べています。「我々は、最高品質のデータを維持しながら、お客様の開発コストを削減するために設計されたターンキートライボロジーソリューションをマーケットに提供することをコミットしています。新しいHFRRモジュールは、実績のある業界標準の試験方法との高い相関性とともに、柔軟性の高いデータ分析を提供できる市場で唯一のツールです。HFRRモジュールについて】2000年に最初のモデルが登場して以来、UMTは市場で最も汎用性が高く、広く使用されているトライボメーターです。TriboLabTMは、その基本性能を犠牲にすることなく、独自のモジューラーコンセプトにより、更なる機能を増やしています。このシステムにHFRRモジュールを装備することで、ASTMや同様のプロトコルを超えて、多くのマーケットの要件を満たし、各アプリケーション固有の条件で高精度データ分析が可能になります。HFRRモジュールは、絶対値としてだけでなく、往復ストロークに沿って発現する微小な変化を識別可能な高精度の摩擦データを提供します。システムの新しいハードウェアとソフトウェア機能の組み合わせにより、これまでにない柔軟性と使いやすさが向上し、潤滑材の開発のための費用対効果と機能拡張ソリューションの両方を提供します。Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。ためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、X線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。www.bruker.comトライボロジー評価装置を持参し、ワークショップを名古屋にて開催します。詳しくはこちらをご覧ください。2」をリリースしました。本製品は、最先端のバイオイメージング機能を持ち最速・最高分解能を兼ね備えたAFMです。BioAFM事業」が発表する、最初の新製品となります。2は、先駆的な顕微鏡観察に必要な技術水準を提供いたします。様々な光学顕微鏡法とAFMの融合を果たしてきたJPK社が培った技術により、他に類を見ない試料観察を可能にした新たなシステムが実現しました。Tapping®を搭載し、極めて優れたフォース制御とかつてないAFMの操作性を両立、定量的で高解像度のイメージングと力学特性マッピング測定が可能です。この独自の機能を組み合わせた革新的なAFMを使うことにより、研究者は、細胞・単分子におけるナノスケールの力学測定において、新しい知見が同時に得られる実験を多角的に行う事が可能となりました。Milhiet教授は次のように述べています。「高速AFMと先進光学顕微鏡との同時観察により、私たちはリアルタイムで分子レベルおよび細胞レベルでの動的プロセスを観察することが可能になります。Tapping技術との組み合わせは、AFMが近年のライフサイエンス研究で標準ツールになるのを後押しするとともに、JPKが生物学研究をけん引するためAFM技術を提供し続けるブルカーの一員であることを証明します。(AFM)の新基準として位置づけられています」と付け加えています。Tapping®を標準搭載することで、いまだかつてない高解像度のイメージングを実現するとともに、従来は評価できなかった様々な試料、特にやわらかいバイオロジー(生物学)関連の試料にも、AFM計測の適用を広げます。2は極めて低ノイズレベル・高速の信号処理を提供します。新しいワークフローベースのソフトウェアGUIが、使い勝手の良いAFMの操作に、新たな幕を開きました。Speed2が、マルチユーザー環境やマルチイメージング機能に完全に対応できるようにします。これらの特徴はさらに、市場にある極めて広範なアクセサリーを使うことで、ユーザーは、大部分のアプリケーションや多様な実験に適用が可能です。2のマルチユーザー環境あるいはイメージング能力を完全にすることで、研究者が実験だけに集中できるようにしています。トラップ、細胞刺激応答などライフサイエンス分野における最先端の技術が加わりました。レベルでの力学測定を実現する新しい顕微鏡システムを提供します。ブルカーのライフサイエンス研究用AFMに関する詳細な情報は、www.bruker.com/BioAFMをご覧ください。BRKR)】ブルカーは、人々の生活の質の向上につながる画期的な発見や新規アプリケーションの開発ができるよう、長きにわたり様々な分析・計測装置を開発してまいりました。弊社の計測機器および分析・解析ソリューションは、生命の本質やそれを構成する物質を、顕微鏡、細胞レベルでの調査探求することを可能にします。おける変革や生産性の改善に貢献するため、今度も皆様に安心してお使いいただけるような体制を整え、分析・計測機器とサポートサービスをワールドワイドにて提供してまいります。Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。原文はこちらブルカージャパンでは、新製品のご紹介として、3月ウェビナーを開催します。詳しくはこちらをご覧ください。ExhibitにてBrukerは本日、Dimension®原子間力顕微鏡(AFM)のAFM-nDMATMモードの発表を致しました。Bruker独自のPeakForceQNM®モードによる卓越した定量的弾性率マッピングを持つAFM-nDMAは、バルクレオロジー測定で一般的な全周波数範囲にわたってバルク動的機械分析(DMA)に適合する画期的なナノスケール粘弾性測定を提供します。AFM-nDMAは、独自のアルゴリズムによって実現され、レオロジー周波数で直接動作し、予圧と接着力を定量化し、絶対較正を行います。損失正接の全マスター曲線を生成し、ナノスケールでポリマーレオロジーを提供することによってAFMの有効性を大幅に拡大します。東京工業大学の高分子物理学教授の中島健博士は次のように述べています。「ナノスケールのレオロジー測定のパイオニアとして、この重要な機能が広く利用できるようになったことを非常に嬉しく思います。Meyers博士は述べています。「これは、工業用ポリマー特性で渇望されていたニーズに対応しています。Rossiは説明します。「AFM-nDMAは、定量的で使いやすいナノメカニカル特性を提供するという当社の長年のコミットメントを反映しています」「TappingModeTMの発明からPeakForceTapping®やAFM-nDMAに至るまで、私たちは一貫してリードしてきました。定量的な粘弾性的特性の使用にAFMが使われることを熱望しています。定量的ナノスケール測定が可能です。AFM-nDMAは、0.1Hz〜20kHzの周波数、250°Cまでの温度、およびサブMPa〜GPa範囲のサンプルモジュレーションで、ポリマーアプリケーションの幅広い適用範囲を提供します。QNMの関心領域ターゲティング、およびフルマスターカーブ解析のための新しいマルチスクリプト解析機能が統合されています。ためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、X線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。XRTMファミリを発表しました。これらの新しいシステムには、Bruker独自の画期的なDataCubeナノ電気モード、エネルギー研究用のAFM-SECM(電気化学)、初めてポリマーナノメカニクスとバルクダイナミックメカニカル解析(DMA)を関連付ける新しいAFM-nDMAモードなどのAFMイノベーションを含んでいます。SPMは、ナノメカニクス、ナノエレクトリカル、ナノ電気化学の各アプリケーションへ適合するために最適化されたシステムです。科学出版物での論文において世界で一番使用されているIcon®とFastScan®の2種類のAFMがプラットフォームになっています。おいて、ナノスケールレベルの材料特性を定量化でき、研究範囲を大幅に拡大することが可能です。Rossiは次のように述べています。「私たちのゴールは、これらの最初で唯一無二の機能をリサーチコミュニティに広く利用してもらうことで、AFMによる新なナノスケール情報で、お客様のブレークスルーに貢献することです。いずれも利用でき、画期的なナノメカニクス、ナノエレクトリックおよびナノケミカル研究のために、すぐに使用できる特性を提供する3つのシステムを用意しています。CRモードを組み合わせ、ナノメカニカル特性の材料を迅速かつ定量的に特性評価します。DataCubeモードが本体に含まれ完璧な電気測定が可能なシステムです。SECMTMモードを備えBruker独自のナノ電極プローブを持ち、ターンキーによる電気化学環境下でのin-situトポグラフィースキャンを実行し、ナノスケール局所反応性のリアルタイム定量分析を行います。ためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、X線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。Divisionが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。厚くお礼申し上げます。弊社AFMプローブ価格を改定させて頂くことになりました事をお知らせ申し上げます。これまでお客様へなるべく低価格にてご提供できるよう弊社にて諸経費の削減をはじめとする企業努力により価格の維持につとめてまいりましたが、弊社単独での努力では抗し難い状況となってきております。つきましてはまことに勝手ではございますが、来年1月よりプローブ価格を改定させていただくこととなりました。弊社プローブをご愛顧頂いております皆様には、諸事情ご高察の上、今後とも何卒弊社製品をご愛顧賜りますよう御願い申し上げます。ケー)非接触3次元光学顕微鏡」の発売を開始します。LS-K非接触3次元光学顕微鏡は、高度なアルゴリズムにより最適化されたフォーカシング技術であるLightSpeedTMフォーカスバリエーション技術を使用し、従来の方法と比較して高速で、非接触な表面計測技術を提供します。LS-Kは5MピクセルCCDの搭載により、高速・高解像度リアルカラーイメージング技術を提供します。ソフトウェアは30年以上にわたり開発されたVision64®ソフトウェアをベースに構築しており、データ処理、分析、および視覚化・定量化のための独自のソフトウェアアルゴリズムを特長としています。LS-Kは、自動X-Yステージ、電動式5ポジション対物タレット、デュアル照明(同軸とリングライト照明)が標準装備されております。持つ平滑表面計測技術やナノメートルオーダー計測にも対応します。QC検査、プロセス制御、R&Dなどの幅広いアプリケーションに最適なパフォーマンスを提供します。ついての詳しい情報はホームページをご覧ください。社の日本法人である日本ビーコ株式会社から事業譲渡され、既に長い間、世界のリーディングカンパニーとして知られているAFM・オプティカルプロファイラーを継続して販売しております。2011年10月には米国CETR社からトライボロジーテスターの試験機事業の買収、昨年1月の米国Hysitron社の買収により幅広いナノ分析装置トータルソリューションの販売・サポートを続けております。幅広いソリューションを提供し、今後の豊かな社会に不可欠なナノテクノロジーの発展に深く貢献してまいります。ためのハイパフォーマンスな科学機器とソリューションを提供するリーディングカンパニーです。バイオスピン事業部、ダルトニクス事業部、オプティクス事業部、ナノ表面計測事業部、X線事業部、ナノ分析事業部から成り立ち、世界各地に工場と販売拠点を置き、お客様のご要望に応じた革新技術を提供し続けています。時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。厚くお礼申し上げます。ブルカー・バイオスピン株式会社、ブルカー・ダルトニクス株式会社、ブルカー・オプティクス株式会社並びにブルカー・エイエックスエス株式会社の4社は平成30年1月1日をもって経営統合(合併)することになりましたのでお知らせ申し上げます。ブルカージャパン株式会社となります。引き続きのご支援ご鞭撻を賜りますようお願い申し上げます。統合により、所在地、連絡先の変更等はございません。今後とも何卒宜しく申し上げます。(CMPプロセス・材料特性評価システム)」を発表しました。TriboLabTM」メカニカル試験プラットフォームをベースとし、CMP(化学機械研磨)プロセス開発を目的とした評価において比類のない能力を発揮します。CMPシステムは、CMPプロセスで用いるパッド・スラリーといった消耗材評価のため、幅広い研磨圧力(0.05~50psi)及び、回転速度(1~500rpm)、摩擦係数計測、AE信号(アコースティック・エミッション)、サンプル温度計測などを提供できる市場で唯一のツールです。Rhoades氏は、「CMPは先進的な半導体デバイス製造で従来以上に重要性が増しています。業界は、様々な材料の研磨中に起こるプロセスや消耗材の相互作用を効果的に評価できる手法を求めていました。CMPプラットフォームの販売支援ができるのはとても喜ばしいことです。我々の取り扱い製品に、この新システムが加わり、パッドやスラリー、コンディショナー、研磨パラメータ間での複雑な相互作用を、細部まで評価できる信頼性の高いR&Dソリューションを提供する体制が整いました。Earle氏は、「ブルカーはCMPプロセス用途向けに10年以上にわたって装置を提供してきました。CMPを紹介できることを嬉しく思います。CMPはすでに、半導体産業における最先端CMP用途開発において、様々なお客様にご活用いただき、優れた試験評価性能が実証されています。CMPは、CMPプロセスの評価のために、広範な研磨圧力と速度領域、AEデータ、摩擦、表面温度といった重要な計測結果を提供できる、市場で唯一の装置です」と述べています。CMPシステムの測定の正確さと再現性は、CMPプロセスを通じ要求される、効率的な品質保証や検査、継続的な機能性試験を可能にします。CMPは、研磨プロセスをより深く理解する目的で「実態分析機能」を標準搭載し、過渡的な研磨特性を徹底的に見える化。ウェハ基板がパッドに触れた瞬間から試験完了までのデータが取得されるため、その詳細なデータを通じて、初期段階でのプロセス開発の決定を可能にします。本システムは小さな試験片での評価が可能なため、ウェハ全面の試験に比べ大幅なコスト削減が図れます。