RFIDテストシステムの構築RFIDテストシステムの開発事例を紹介します。過去、ペリテックが開発した事例となります。乗車カード、電子マネーなどのICカードのみならず、流通、トレーサビリティなどの用途にも飛躍的に普及しているRFID技術。このRFIDを開発、測定するシステムがなかなか見つからないという課題を凸版印刷株式会社の担当者様から伺った。Instruments)社の営業部長である五味氏に相談したところ、RFIDテストシステムのノウハウを持った国外のアライアンスと提携してみないかとの提案があった。Network社(以下VISN社)が提携することで、RFIDの分野においても我々のソリューションを提供できると確信を持ち、凸版印刷様の協力の下、このプロジェクトはスタートした。テスタツールキットソフトウェアは、日本の顧客向けに作られたものではなく、また顧客の要望が反映されていなかったため、不十分な部分が多かった。そのため、凸版印刷様へ納入後も改善点が残されていた。帯のRFIDタグから受信した応答が読めるはずのパワーで送信しているはずだが、ある位置や周波数によって読めるときや読めないときがあるという現象が起こった。日本でRFIDを普及させるためにはタグの応答周波数特性が特に重要であった。タグをそのまま使用することが難しいためである。様々な周波数、パワー、位置、環境などの条件を検査しなければ日本の周波数領域で適切に使用することができない恐れがある。そのために今までは検査に1日以上の日数を費やしており、早急に検査時間の短縮化が望まれていた。社がこのヌル点の解決策を見出すのはとても困難であった。習得されたことで、問題解決策の提案をいただけるようになった。IQデータの実部と虚部に応答信号が観測されていることに気が付き、ペリテックはその部分のデコードができるように処理を作成し改善することができた。最終的にVISN社が提供しているツールキットにその機能が追加され、解決不可能と考えられたヌル点でのデコードが可能となった。検査時間を短縮するためにはどうしてもソフトウェアだけでデータを処理することは不可能であった。FPGAで行うことで対応した。(IF-RIO)が提供されており、そのIF帯の処理をIF-RIOで行うことにより一回のコマンドを50ミリ秒程度で送受信することができるようになり瞬時に周波数特性検査を行うことが可能となった。これで今まで1日以上かかっていた検査がたった数十秒になり、飛躍的に開発スピードが短縮され、コストの削減につながった。ソフトウェアまとめ難解なRFIDテストシステムの構築もLabVIEWを使用し問題点を顧客と共有することにより短期間で解決策を見出すことができた。テストシステムは進化し続けている。NI製品の中から最適なものを選択できるノウハウを持ったペリテックがシステムを短期間で構築することが可能でき、顧客それぞれの要望に応じて独自のシステム構築が可能となる。NI製品を使えばすばやく柔軟に対応できるのでシステム投資も最小限に抑えることができる。測定器単体では解決が難しい課題でもNIのソリューションとシステムインテグレータのノウハウ、およびLabVIEWを通じて顧客の成功を共同で提供することが可能となる。音響・振動お問い合わせお気軽にお問い合わせください。