microscope、SEM)は電子顕微鏡の一種である。(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。JCM-7000光学像からSEM観察、元素分析まで高い操作の壁を破る卓上SEM走査電子顕微鏡(SEM)は、同じ倍率でも、光学顕微鏡と異なる情報が得られます。使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。定量分析の受託サービスSEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。定量分析により、試料中に含まれる成分の質量を明らかにします。定量分析には、サンプルの種類や必要とされる精度に応じて様々なアプローチがございます。LABORATORIES株式会社マッピング分析の受託サービスカラーマッピングにより、元素の分布を確認します。マッピング分析とは元素や成分の分布状態を視覚的に確認する分析手法です。当社では、電子線(EDX,WDX)と、赤外顕微鏡(FT-IR)を用いたマッピング分析に対応しております。腐食分析の受託サービス金属の錆分析や樹脂やゴムの劣化分析により、お客様の問題解決をサポートします。されて本来の機能を失う現象です。受託サービス製品や部品に発見された未知な付着物の分析を実施致します。未知な付着物の性状を分析するためには、付着物の大きさ、厚み、組成などの情報から適した分析方法を選択する必要があります。LABORATORIES株式会社EDX分析の受託サービス試料表面に含有される元素(B~U)の定性・定量分析を実施します。超音波探傷サービスでは、非破壊による評価方法の一つである超音波による内部観察を実施します。半導体パッケージや電子部品内部の剥離・ボイドなどの欠陥が観察可能です。シーリングFASTECHムサシノ電子株式会社シンコム・システムズ・ジャパン...。