オンウェハまたはチップ状態で測定可能なシステムを設計製作でご提供させていただきます。研究開発用のコンパクトなマニュアルシステムから、ウェハ面内自動測定に対応したセミオート・システムまで、お客様のアプリケーションに最適なオプトデバイステストシステムをご提供いたします。受発光素子テスト仕様(3インチφ)システムインテグレーションハイソルプローブ・システムと各種計測機器をインテグレーションし、統合した測定システムとしてワン・ストップ・ソリューションでご提供させて頂きます。ハーネス、アクセサリ、カスタムソフトウェア等、お客様のご要求アプリケーションに最適な測定システムをご提案いたします。多数カタログダウンロード(PDF)ハイソルプローブシステム総合カタログお問い合わせフォームが表示されるまでしばらくお待ち下さい。(プライバシーポリシー)個人情報に関する法令・規範を遵守します。当社はお客様の個人情報への不正アクセス、紛失、破壊、改ざん及び漏洩等の防止に努めます。個人情報は法令に基づき開示される以外は、個人情報をお客様に明示した利用目的の範囲内で取扱い、第三者に譲渡、提供はしません。reservedお問い合わせ。