(現在1文字を使用しています)。(TKD)のための最良のサンプル検出器ジオメトリのために特別に設計されたOPTIMUSTMTKD検出器ヘッドで構成できるようになりました。TM検出器ヘッドは、比類のない感度で菊池パターンを取得するだけでなく、パターンのようなSAED(選択領域電子回折)へのアクセスを提供します。以上の空間解像度を持つ方向マッピングサンプルの下の水平蛍光体スクリーンの位置は、垂直標準設定と比較して2つの大きな利点があります。低い可能なノモニック突起歪みかなり強い信号は、このように改善された空間分解能を可能にする小さな開口部を持つオリエンテーションマップを取得することができます。nm以上の有効な空間分解能を示しています。kVまでの低加速電圧での作業も可能です。これは、平均自由経路を減少させ、したがって菊池回折信号の収率を増加させるのに役立ちます。これは、薄いサンプルと「軽量」サンプルを分析する場合に非常に便利です。ノモニック投影による歪みはEBSDの一般的な問題であり、特に垂直蛍光体スクリーンを使用する場合のTKD分析に影響を与えます。TKDは、蛍光体スクリーンの中心をパターンセンターと正確に一致させ、標準的なEBSDジオメトリが提供するものよりも優れた理想的な幾何学的条件を可能にします。結果として生じる菊池パターンは、バンド検出とその後のインデックス作成精度を大幅に向上させる最小の歪みがあります。オプティマスTM検出器は、電子透過試料の下の作業位置に向かう。TEM」に変換します。ARGUSTMは、変形した材料内の個々の転位および脱臼壁のネットワークを表示するために使用することができる。画像のような暗視野は、境界面の位置と傾斜に関する3D情報を示します。使いやすさすべての既存のeFlash検出器は、OPTIMUSTMTKD検出器ヘッドを装着することができます。TM交換は訓練されたユーザーによって10-15分未満で容易に行うことができる。モードを必要なときにいつでも簡単かつ迅速に切り替えることができます。mm/sの速度で引き込む損傷の危険を大幅に減らす。2分析ソフトウェアスイートを提供します。®データ洗浄のない生オリエンテーションマップは、fcc結晶中のアニール型双生ドメイン(A)を示す。EHTを使用して、ギベオン鉄隕石から140fpsの速度で取得されました。データクリーニングのない生オリエンテーションマップの詳細。これは、わずか6〜9nm幅のfcc結晶におけるアニール双生ドメインを示す。OPTIMUSTMARGUSを備えたTKD検出器TM鮮やかな暗く明るいフィールドイメージングのための直接電子検出システム。色分けされた暗いフィールド画像は、大きく変形した純粋なAlサンプルから取得した。挿入は個々の転位を示す。色分けされた暗視野画像は、大変形(ARB)Al合金試料から取得した。粒の間の境界面の位置と傾斜は、サンプルの厚みを通して見えます。EHTを使用してFIB調製Auサンプルから4nmのステップサイズで100fpsで取得した。FIBで調製されたSiCサンプルから取得した色分けされた暗視野画像。画像は、一部の双子が幅10nm未満である重く絡み合った微細構造を示しています。明視野(左)とそれに対応する暗視野画像(右)は、結晶粒界での沈殿物の存在を示す大変形(ARB)Al合金試料から同時に取得した。