半導体3D構造には、検出が難しい埋め込み欠陥が含まれている可能性があり、低レベルのリークやばらつきが発生し、相互接続の抵抗やトランジスタのパフォーマンスに大きなばらつきが生じ、何ヶ月もの余分な設計サイクルタイムにつながります。“Design-for-Inspection”?<pr>弊社の設計検査システム(DFITMシステム)は、3D構造の内部に埋め込まれた電気的に関連する欠陥を1時間あたり数億DUTの速度で検出できる非接触電子ビーム測定システムです。半導体製造の途中でインラインで使用するのに十分な速さ。</pr>潜在的な信頼性リスクの早期可視化DFIシステムは、ウェーハあたり数十億の構造を効率的にスキャンして、PPMからPPBレベルでの小さなリークを特定し、ダイ内の潜在的な弱点に対する独自の信頼性の洞察を提供します。システムは、単一の故障タイプのすべてのダイの高解像度マップ、またはすべての故障タイプの複合マップを提供します。Neighborhood)などの大まかな方法​​よりもダイごとのリスクスクリーニングが向上します。content.<pr>2020年3月までの累積DFITMテープアウト</pr>DFIシステムはどのように機能しますか?DFIシステムは、設計に挿入された特許取得済みのIPセルと、それらのIPセルの電気的応答を読み取る専用の高性能電子ビームハードウェアの組み合わせです。これらを組み合わせることで、歩留まり、パフォーマンス、信頼性を制限するプロセスとレイアウトの感度を特定し、通常は数か月後まで見たり測定したりできない設計の問題に先見性を与え、コストのかかる設計の再設計と市場投入までの時間の遅延につながる可能性があります。高性能インラインEビーム検査<pr>当社の特許取得済みIPセルは、非接触型電子ビームテスト測定システムであるeProbe®150および250によって製造ラインの真ん中で読み取られます。これらのシステムは現在世界中の複数のサイトに配備されており、複数ノードでの歩留まり学習に積極的に使用されています(22nm、14nm、7nmおよび5nm)。250のスループットパフォーマンスは、1時間あたり1億DUTをはるかに超えており、インライン検査に十分な速度です。利用規約サイトマップこのウェブサイトは、あなたの経験を向上させるためにCookieを使用しています。私たちは、あなたがこれで大丈夫だと仮定しますが、あなたはオプトアウトすることができますご希望の場合。閉じるプライバシーの概要このWebサイトでは、Cookieを使用して、Webサイト内を移動する際のエクスペリエンスを改善しています。これらのCookieのうち、必要に応じて分類されたCookieはWebサイトの基本的な機能の動作に不可欠であるため、ブラウザーに保存されます。このWebサイトの使用方法を分析および理解するのに役立つサードパーティCookieも使用します。これらのCookieは、お客様の同意がある場合にのみブラウザに保存されます。これらのCookieをオプトアウトするオプションもあります。これらのCookieの一部をオプトアウトすると、ブラウジングエクスペリエンスに影響する場合があります。NecessaryNecessary常に有効Webサイトが正しく機能するためには、必要なCookieが絶対に不可欠です。このカテゴリには、Webサイトの基本機能とセキュリティ機能を保証するクッキーのみが含まれています。これらのクッキーはいかなる個人情報も保存しません。不要Webサイトが機能するために特に必要ではない可能性があり、分析、広告、その他の埋め込みコンテンツを介してユーザーの個人データを収集するために特に使用されるCookieは、不要なCookieと呼ばれます。あなたのウェブサイト上でこれらのクッキーを実行する前にユーザーの同意を得ることは必須です。