ELパネルを、UV照射により劣化させた。輝度は半減程度、発光部は周辺部からシュリンクする。精密斜め切削+TOF-SIMS分析結果(Green)Green画素における、精密斜め切削+TOF-SIMSによる有機層の深さ方向の構造解析結果を上図に示す。NPDが使われていることがわかる。画素が小さいため、深さ方向分解能が十分ではないが、UV照射によりHTL(NPD)中のAlq3濃度が上昇しており、素子が高温になったことによる劣化などが考えられる。TEM-EELS分析結果(Blue)Blue画素のTEM-EELSによる各構成元素のラインプロファイルを右図に示す。UV照射により、カソード下部の酸素量が若干上昇している可能性が考えられる。このことから、カソード最下層が酸化することによる電子注入効率低下が、発光特性に影響している可能性が示唆される。