Ratio(消光比)は、直線偏光が偏光子の軸に合うようにアライメントされた時の最大透過率と、そこから偏光子を90°回転させた時の最小透過率との比です。リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。ビーム径に対して偏光子の開口が十分な大きさであること、および偏光子が適切にアライメントされていることを必ずご確認ください。各偏光子は2つの分離したプリズムで構成されており、開口範囲内ではエアスペース構造ですが、開口範囲外でプリズムを接着しています。この接着部分に高出力レーザが照射されると、致命的な損傷や破壊を招く恐れがあります。方解石は温度の変動に弱い結晶で、熱衝撃を与えると割れます。梱包は熱平衡になってから(6~8時間後)開いてください。000:1を超える消光比で高品質な偏光を作り出すことができます。3重プリズムのエアスペース型偏光子は、光学グレードが最も高い方解石で作られています。非偏光の光が偏光子に入射すると、結晶間の2つの境界面で分岐します。通常光線はそれぞれの境界面で反射されて散乱し、偏光子の筐体で部分的に吸収されます。異常光線は偏光子を透過し、偏光した光を出力します。偏光子の3重プリズム設計により、標準的なグランテーラ偏光子に比べて視野(FOV)が大きくなっています。標準的なグランテーラ偏光子とは異なり、このダブルグランテーラプリズムの視野(FOV)は対称です。mmと大きくなっています。mm(Ø1インチ)のオプトメカニクス取付け用部品に対応しています。mm(Ø1インチ)の積層型レンズチューブを用いて、DGL10を当社の手動式や電動式のマウント、精密マウントあるいはケージシステム用回転マウントに取り付けられます。EnlargeZemaxファイル下の型番横の赤いアイコン(資料)をクリックするとZemaxファイルをダウンロードいただけます。こちらからは当社の全てのZemaxファイルの一括ダウンロードが可能です。Ratio(消光比)は、直線偏光が偏光子の軸に合うようにアライメントされた時の最大透過率と、そこから偏光子を90°回転させた場合の最小透過率との比です。リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。ビーム径に対して偏光子の開口が十分な大きさであること、および偏光子が適切にアライメントされていることを必ずご確認ください。各偏光子は2つの分離したプリズムで構成されており、開口範囲内ではエアスペース構造ですが、開口範囲外でプリズムを接着しています。この接着部分に高出力レーザが照射されると、致命的な損傷や破壊を招く恐れがあります。方解石偏光子はすべて高品質な複屈折方解石結晶を素材としています。方解石の複屈折性により、光軸の方向に偏光した光波と光軸に対して直交する方向に偏光した光波は異なる屈折率で伝搬します。当社のダブルグランテーラ偏光子では、この複屈折性により1つの方向に偏光した入射光は選択的に反射および吸収され、それに直交する偏光は透過します。非偏光の光が光学素子に入射すると、異常光線は偏光子を透過し、通常光線は偏光子内の各結晶界面で反射します。反射した通常光線は散乱されて部分的に光学素子の筐体に吸収され、その結果高い偏光度の光が出射されます。方解石偏光子は偏光スプリッタ/コンバイナとして、あるいはビーム中の直交する偏光成分を取り除く偏光子として設計することができます。当社の方解石偏光子は、右の図のように2つのプリズムから構成されています。方解石は損傷を受けやすい柔らかい結晶なので、当社の方解石偏光子の多くは金属製の筺体に収められています。波長と入射方向によって視野(FOV)が変化する特性があります。アライメントやコリメートの際には、このプリズムの視野を考慮する必要があります。標準仕様のグランテーラ偏光子とは異なり、当社のダブルグランテーラ偏光子は対称な視野を持ち、波長が長くなるとその視野も拡大します。当社の偏光プリズムには、高品質の天然方解石のみを使用しています。これらの偏光子の典型的な透過率曲線は、「グラフ」タブ内に掲載されています。方解石は天然の素材で作られているので、結晶ごとのバラツキが透過率曲線と損傷閾値に影響を与えます。μm以上の波長域で生じるので、それよりも短波長の可視域や近赤外域で使用するのには適した材質と言えます。レンズチューブSM1L20を使用して回転マウントPRM1/Mに取り付け可能です。回転マウントPRM1(/M)に付属している固定リングSM1RRを取り外す。ネジ付きのレンズチューブ端部を回し、写真Aのように回転マウントに取り付ける。レンズチューブのもう1端に偏光子を取り付ける(写真C参照)。レンズチューブに付属する固定リングを使用して偏光子をしっかりと位置固定する。固定リングの締め付けにはスパナレンチSPW602を使用可能(写真D)。mm(1インチ)光学素子用マウントSM1P1をご使用いただけます。mm)当社のダブルグランテーラ方解石偏光子の損傷閾値データ右の仕様はダブルグランテーラ方解石偏光子の測定値です。ビーム径に対して偏光子の開口が十分な大きさであること、および偏光子が適切にアライメントされていることを必ずご確認ください。各偏光子は2つの分離したプリズムで構成されており、開口範囲内ではエアスペース構造ですが、開口範囲外でプリズムを接着しています。この接着部分に高出力レーザが照射されると、致命的な損傷や破壊を招く恐れがあります。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。