先端研究の薄膜・表面・界面の特性評価のために、UVISELシリーズは、モジュール式と性能面でベストな組み合わせを提供します。S/N比で、全波長域に渡って高品質な測定データを採取することができます。UVISELLシリーズは、機械的な動作無く、高周波(50kHz)にて偏光変化を採取するための位相変調技術を組み込んでいます。約60ms/ポイントと非常に速いデータ取得速度~kinetic測定やIn-Situ測定へ最適~位相変調技術を有するUVISELLシリーズは、回転機構を有する従来のエリプソメーターと比べると、薄膜を評価するために、より高感度、より高精度の測定を実現します。このことは、30μmまでの厚膜層や他のどんなエリプソメーターでもみることのできない薄膜や界面層の検出を可能とします。UVISELはフレキシブルな構成で、製品特長に記載の波長域が対応可能で、自動化機能とアクセサリーは、ユーザの実験や研究へ対する様々な要求へ合うような能力を有しています。Yvon社のすべての薄膜計測ツールに共通のプラットホームであるDeltaPsi2ソフトウェアによって制御されており、DeltaPsi2ソフトウェアはルーチンや先端研究の薄膜アプリケーションの両方を扱うための自動測定やモデル・パッケージの機能を有しています。コーティング、光エレクトロニクス、バイオおよび化学などの各分野のアプリケーションにおける、研究、産業、およびQC分析の要求に対して、UVISELシリーズは薄膜構造の高精度な評価法としてベストな解決法を提供します。特長UVISEL波長範囲:210-880nm一般的な膜厚測定にご使用いただける標準波長範囲を有したモデル。将来的に近赤外域への拡張が可能。NIR波長範囲:260-2100nmUVISELモデルよりも高分解能を有する分光器を有し、紫外域~近赤外域までの連続測定を実現したモデル。検出波長域の異なる2種類の高感度検出器を搭載(測定中は自動切換)。ナローバンドギャップ材料の評価や超厚膜測定などに最適。FUV波長範囲:190-880nm高度な光学設計により、素晴らしいS/N比のまま190nmまでの紫外域へ拡張したモデル。将来的に近赤外域への拡張が可能。SAM膜のような超薄膜測定などに最適。FUVモデルに近赤外域を拡張し、UVISELシリーズの中で最も広い波長範囲で素晴らしいS/N比を実現したモデル。あらゆる応用分野に最適。(142nm〜)対応モデルもございます。アクセシビリティサイトマップ。