国土安全保障上の監視等の用途に利用可能です。セキュリティ用途においては光学的に不透明な材料を通す事で画像形成を可能とさせます。テラヘルツ波長帯域の放射線においても、テラヘルツスペクトル領域内の様々な化合物の固有スペクトルシグネチャーによって、材料、医薬品、または食品の内部構造の解析に使用することができます。これによって分光分析の工業用途、および科学研究用途に大きな可能性が開けました。光源の正確な利用を伴うあらゆる用途において、測定は重要な問題となります。いえテラヘルツ放射の測定では、特に校正された測定において、いくつかの技術的課題が示されています。出力レベルは最低でnWレベル、最高で数百mWレベルです。低光子エネルギー(meV単位のレベル)の場合は、フォトダイオードセンサーを用いた検出は非常に困難です。このためサーマルセンサーまたは焦電センサーが必要となりますが、これらでは十分な感度が得られません。テラヘルツスペクトル領域に適した吸収体を見つけることは容易ではありません。Ophirは、特定のアプリケーションのニーズに応じて、高出力から低出力まで対応可能な出力測定のソリューションと、ビームプロファイル測定のソリューションを提供します。高出力対応:3A-P-THzはサーマルディテクターの原理に基づくパワーセンサーで、最大3Wまでの短パルスおよびCWビーム出力を測定します。3A-P-THzは、ドイツの国立計測研究機関であるPTB(ドイツ物理工学研究所)によってテラヘルツ測定用に校正されています。3A-Pセンサーを使用し独自にテラヘルツ校正の精度を高めています。)低出力対応:RM9-THzはNISTで校正された焦電センサーと特殊テラヘルツ吸収器、18Hzチョッパー、およびデジタルロックインアンプを備えた完全なセンサー測定パッケージで、テラヘルツのビームパワーを最小100nWまで測定可能です。これらのセンサーは、各種Ophirの標準ディスプレイおよびPCインターフェースと互換性があり、広い波長範囲にわたりテラヘルツビームのパワーを、正確に校正されたトレーサブルな測定を可能にさせます。IVなどの計測器を使用して測定および解析することができます。IVプロファイラーお問合せご入力お願いいたします。cookies.Accept。