システムのオプション機能として動作します。分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。された吸収帯での赤外吸光像(官能基分布)を同時計測することが可能です。AFM-IRは以下の特徴があります。サーマルレスポンス:温度変化,熱膨張)が生じます。この瞬間熱膨張変化をカンチレバーにより検知します。カンチレバーのリングダウン信号(あるいはそのフーリエ変換)の振幅が吸光度と比例するため、従来のFT-IRスペクトルと同等のスペクトルが得られます。コンポジット薄膜サンプルPS(ポリスチレン)及びPCL(ポリカプロラクトン)の分布をAFM像及び赤外吸収像にて可視化しています。赤外吸収像では各波数に応じた強度を示しており、組成分布はそれぞれの波数の強度を比によって表示しております。画像内でラインプロファイルやスポットでのスペクトル解析も可能です。300nm程度以下の薄膜である必要がある。ミクロトームでの切削面等を推奨。理想条件としては、測定対象を含む試料の表面凹凸は100nm以下であることが好ましい。納期(1)速報納期(2)注意事項その他の留意点(1)異物の場合予想される物質もしくは使用されていた環境の情報をご提供ください。本手法は、再委託によるサービスとなります。黒色物など、赤外光の吸収が大きい試料は、良好なスペクトルの取得が困難になる場合があります。液体、粉体は対応が困難な場合があります。分析のご相談・お申し込み知識豊富な営業担当が、最適な分析プランをご提案。分析費用のお見積りもお気軽にお問い合わせください。相談・お申し込みは、専用のフォームかお電話でどうぞ。