製品マニュアルのDLソフトウエアのDL資料・カタログのDL生産終了製品お問合せ先AVALの最新情報を配信しています。光切断法による三次元形状測定において、スリット光に白色LEDを用いる事で、三次元形状とカラーのテクスチャ情報を取得し、形状検査とテクスチャの検査が同時に可能となりました。スリット光の中心位置抽出アルゴリズムを見直し、より高速、高分解能化を行っています。従来の光切断法では、スリット光の中心位置を求めるのに輝度値の最大値や重心、二次式近似によるピークの算出を行っていましたが、より反射などのノイズに強く、高精度に中心位置を求める手法を開発しました。従来では画像1フレームあたり1ライン分のプロファイルデータを算出するため、使用するカメラのフレームレートに依存した測定スピードとなりましたが、本手法では、画像1フレームあたり複数ライン(2、3ライン程度)のプロファイルデータを算出するため、カメラのフレームレート×数倍の測定スピードが実現可能となります。スリット光による違いLEDのスリット光はレーザのスリット光に比べ、スペックルノイズが無く、乱反射も少ないため、より安定的な測定結果を得られます。白色LEDを用いる事で、測定物のカラーテクスチャも同時取得しています。TOPCopyright個人情報の取り扱いについてサイトポリシ。