産業、民生用途などの一般的な半導体デバイスの品質・信頼性の評価(試験)方法に関して標準化活動を行っています。<」は、現在発生している新型コロナウイルスの影響を鑑み、ご参加いただく方々の安全と感染拡大の防止を考慮しまして、開催を延期させていただくこととなりました。開催日程が決まり次第、改めまして、告知いたします。ガイドライン(EDR-4708)」を制定しました。認定規格としてはAEC-Q100が良く知られていますが、AEC-Q100は摩耗故障に注目した過度な強度・寿命を追求する規格になっており、本質的な品質に関する観点が抜けているという課題があります。車載以外の用途に対してもAEC-Q100に相当する過大な認定試験要求が出てきています。データの有効活用で効率的に実現するためのガイドとして、日本内外での活用が期待されます。本セミナーでは国際標準化に伴うビジネスへのインパクト、EDR-4708Bによる半導体製品の認定方法について解説を行います。詳細は下記リンクの案内pdfをご覧ください。集積回路ICを中心とした半導体信頼性認定ガイドラインセミナーは初めての関西での開催となります。多くの皆様のご参加をお待ちいたしております。ガイドラインセミナー(大阪)のご案内(PDF)お申込数が定員に達したため、申込を締め切りました。