製品YWafer-RD8RD8-ST_previewr.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/RD8-ST_previewr.pngRD8-CP-325_front_side.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/RD8-CP-325_front_side.pngRD8-WL-Prototype1.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/RD8-WL-Prototype1.pngRD8-CP-325_back_side.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/RD8-CP-325_back_side.pngウェーハマッピング装置RD8-WLシリーズ(WL26及びWL48)は最大測定面積200×200mmまでの様々なウェーハサイズや形状に対応した装置です。2~6インチと4~8インチ自動搬送仕様から選べられます。ウェーハ板厚の測定が含まれており、お客様のご要望に合わせて個別対応もさせていただきます。製品YWafer-RD8RD8-ST_previewr.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/RD8-ST_previewr.pngRD8-CP-325_front_side.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/RD8-CP-325_front_side.pngRD8-WL-Prototype1.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/RD8-WL-Prototype1.pngRD8-CP-325_back_side.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/RD8-CP-325_back_side.pngウェーハマッピング装置RD8シリーズは最大測定面積200×200mmまでの様々なウェーハサイズや形状に対応した装置です。ウェーハ板厚の測定が含まれており、お客様のご要望に合わせて個別対応もさせていただきます。製品YWafer-YB4YB4.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/YB4.png透過光源により蛍光体特性をマッピングする測定装置です。2、4インチまでのウェーハホルダーを設定できます。ご要望に合わせて装置の個別設計も可能です。ご要望に応じて、様々な形状やサイズのウェーハに対応させ、測定項目の追加や個別測定なども開発いたします。詳細は弊社までお問い合わせください。製品YWafer-YB3/YB3SYB3.pnghttp://www.ysystems.jp/images/products/YWafer/YB3.png透過光源による蛍光体特性をマッピングする測定装置です。2、3インチまでの円形または正方形のウェーハホルダーを設定できます。ご要望に合わせて装置の個別設計も可能です。ご要望に応じて、様々な形状やサイズのウェーハに対応させ、測定項目の追加や個別測定なども開発いたします。詳細は弊社までお問い合わせください。Reserved.トップに戻る。