高精度かつ簡単な測定を可能にしました。LM-78、LM-79に準じた配光分布2π・4πの試料ランプの全光束測定が可能です。日本語表示のソフトウェアから容易にシステム校正及び試料ランプの点灯、測定、データの保存まで行えます。オプションで試料ランプの温度をコントロールして、ランプの温度特性測定が出来る温度制御モジュールや測定規格LM-80の積分球内部温度を一定にする積分球デザイン・温度制御装置をご用意しています。ユーザの測定方法に合わせて、ソフトウェア、ハードウェアのカスタム、そして特注試料ランプホルダーの製作も承っております。標準品でご用途に合うシステムがない場合は、是非ご相談下さい。試料ランプの配光特性により、測定方法は2πと4πに分けられます。前方向に発光するダウンライト照明のような試料ランプは2π測定で、試料ランプを積分球外部に設置します。白熱電球のように前面だけではなく全方向に発光する試料ランプは4π測定で、試料ランプを積分球中心部に設置します。小型システム構成図LEDチップのような小さな試料ランプ向けの2π測定専用のシステムです。※画像はクリックで拡大します。A光源を測定した時の参考値NIST準拠校正光源NVLAP認証のラブスフェア社が提供するNIST準拠の校正用光源です。校正光源は試料ランプと同じ位置に設置することが推奨されています。試料ランプステージに設置します。あるポートに常に設置されます。LM-79推奨2π測定用校正光源2πの配光特性をもつ校正光源です。積分球壁面にある試料ランプポートに設置し、校正後に取り外します。オプション2π測定用温度制御モジュール試料ランプの温度に対する光学特性や電気特性を測定します。ソフトウェアから温度設定ができ、モジュールプレート温度及び試料温度のモニタ、保存もソフトウェアから可能です。温度範囲は標準で10°Cから80°Cです。試料ランプの仕様に対応したAC電源をシステムに組み込むことができ、発光効率を自動算出します。恒温モジュール高速測定タイプの分光器に恒温モジュールの設置ができ、長時間測定の際に必要なベースラインの安定性を向上します。LM-80規格に適応した積分球デザイン・温度制御装置LM-80規格の積分球内部温度を一定(25°C±1°C)にする温度制御装置をシステムに組込むことが可能です。JIS規格にトレースした測定JIS規格にトレースした標準電球を使ったシステム校正及び測定も可能です。特注試料ランプホルダ特殊形状の試料ランプから直管型LEDランプ(20型、40型、110型など)、電球型LEDランプ(E39型やE26型など)のホルダまで、様々な試料ランプホルダーを作製致します。