14:00~14:50GaNやSiCといったワイドギャップ半導体を用いたスイッチング・デバイスの動作速度は上がる傾向にあり、それに伴い、放射されるノイズの周波数も広帯域化し、一般的なスペクトラム・アナライザでは捕捉・解析が難しくなりつつあります。このセッションでは、それら広帯域ノイズを測定する手法及びノイズ源の特定方法について、測定事例を交えてご説明します。※セッション内容は若干変更される可能性がありますのでご了承下さい。※本セミナは、ユーザー企業のご担当者様を対象しております。個人の方または同業他社の方のお申込みはご参加をご遠慮いただく場合がございます。※フリー・メール・アドレスでのご登録はご遠慮ください。14:00セミナーは終了しました。