全視野がケラレなく観察できる、接眼レンズに対する目の位置を表します。光学ガラスその他において分散に関する性質を規定する量をいいます。対物レンズの外側から試料を照明し(光軸に対して傾いた光線で試料を照明する)傷のない平らな部分は暗黒で凹凸や傷のある部分のみが明るく輝かせて観察するための照明方法。光路差を角度の単位で表したものです。集光器の下部焦点面内に環状の絞りを持ち、この環状のサブステージの絞りの像を丁度一杯にする対物レンズの上部焦点面内に四分の一波長だけ減衰し、吸収するリングを持った顕微鏡。透明物体を通過した直接光は、このリングに当たって光の強さが減少する。屈折率と厚さの変動によって透明物体内の位相の差から回折した光は、減衰リングに入らず、干渉顕微鏡式に直接光と干渉する。して、明るさに変化が見られた物体に対して、形成された像には位相の変化が生じる。色収差が補正されたレンズ。光学系によって結像する場合、光の波長によって、像の位置及び倍率が異なる収差。前者を軸上色収差といい、後者を倍率色収差といいます。レンズ系において、光線束を制限する絞り。明るさ絞りともいいます。光学系の明るさ又は解像力に関連する量の一つです。目に入って、視感覚を起こすことができる放射。光線という概念で用いる場合は、可視光線といいます。紫外線、X線、電子線などを可視光に変換するために、蛍光体を適当な支持体に塗布した板。照明系の視野絞りの像を試料面に作り、光源又は明るさ絞りの像を対物レンズの像焦点に作り、二つの絞りが独立に働くように構成された顕微鏡の照明方式をいいます。結像にあずかる光線束の一部が、レンズ、鏡筒などでさえぎられる現象をいいます。試料の表面を量的な三次元像として見る顕微鏡の一型式。表面は自由に曲がるカンチレバーに装着された極端に鋭いチップによって走査される。チップ上の原子は、カンチレバーにふれを起こさせるもとになる試料の表面の原子と相互に作用する。このふれを監視し、像の生成に使う。物体の結像などを行うため、反射面、屈折面などを、光軸を基準として配列したものをいいます。光学系の光源、レンズ、絞りなどの中心を連ねる直線をいいます。曲率中心を連ねる直線をいいます。光という用語を用いる場合に、特に波動性を強調する必要があるときに用いる用語です。屈折率nの媒質において、光の進む道筋の長さlと、その道筋に沿った媒質の屈折率nとの積。光学距離ともいいます。焦点を合わせたときの対物レンズ先端から試料面までの距離のこと。接眼レンズから出る光線束が、収束又は発散する度合いをいいます。光学器械の視野を制限する絞りをいいます。対物レンズによって拡大された像を接眼レンズで観察した際に、観察できる像の直径をmmで表したものです。この数値は接眼レンズ、若しくは接眼レンズに使用するレチクルにより変化します。光学系の結像の不完全さの結果として生じる性能的な誤差。広義には波動光学的な波面収差も現在では含めている。光学系の主点から焦点までの距離。レンズについては、これを有効焦点距離と言うこともある。光学系の焦点面の前後で鮮明な像ができる範囲をいいます。顕微鏡では、鮮明に見える物体空間での光軸方向における範囲をいいます。物体から出る多くの光線が光学系を通過した後、像面と交わる点を図示したものをいいます。スメア―ゴーストや異常な程高いビデオ周波数の応答の結果としてのテレビ画像内での解像度の欠陥で、歪みが水平にはみ出てボケて現れる。呼ばれ、表面を貫通させるため高周波の超音波を用いた装置。材料の表面にある個々の原子の位置を検出、測定することができる高解像力の結像装置。非常に微細な導電プローブを試料面の上、10~20Aの距離に置く。走査中、バイアス電圧がプローブと表面との間に印加され、オーバーラップした電子の雲と、プローブと試料との間の電位隔壁間を掘り進む電子を創成していく。プローブチップは、圧電式トランスデューサーによって試料からある一定の距離に保たれていて、三次元の地形的な像を生み出す。量子力学的なトンネル電流によるトンネル効果を利用していて、半導体や金属の表面構造の解析やウィルス、DNA(デオキシリボ核酸)の観察にも応用されてきている特殊な顕微鏡。トンネル顕微鏡などがある。光がレンズのまわり360°から照射する照明法。光の吸収性の多いサンプルなどに対し、凹凸が観察され、観察映像を立体的に見せる効果のある照明方法。顕微鏡などで、物体からの光を受け、最初、もしくは一時的に像を作る光学素子。カメラでは、対物レンズによって生じた像は最終像となり、顕微鏡で視覚的に用いる時は、対物レンズによって生じた像は接眼レンズによって拡大される。入射瞳、もしくは射出瞳のどちらかが無限遠に位置する光学系。開口絞りを像空間の後側焦点、もしくは物体空間の前側焦点に置くと、それぞれに対応して、すべての主光線は物体空間もしくは像空間で光軸に平行になる。したがって、物体面や像面の位置の誤差が撮影や測定される像の大きさの誤差に与える影響が少ないため、物体の寸法測定や倍率変動誤差の厳しい光学系に応用される。レンズその他に利用されます。前側焦点に開口絞りを置いたレンズ。その結果、レンズを通過した主光線は像空間では光軸に平行になり、射出瞳の位置は無限遠になる。写真乳剤や他の短い波長のセンサーの助けによって、サブミクロ的な試料を観察したり記録するため電子ビームを活用した装置。電子顕微鏡の使用で、最大実用倍率は30万倍以上となる。光が対物レンズの下から平行光で照射する照明法。光の透過性のあるサンプルなどに対し、内部の状態や欠陥の観察に効果のある照明方法。透過光の放射束又は光束Φtと入射光の放射束又は光束Φ1との比Φt/Φ1。一般に百分率(%)で表します。光がレンズを通り、垂直に照射する照明法。平面に微細な凹凸や模様のあるサンプルに対して明暗をつけ、観察画像を立体的に見せる効果のある照明方法。水晶のような復屈折性結晶をビームスプリッターとしてシアリング(横ずらし)量を対物レンズの分解能以下にした偏光2光束シアリング干渉照明法。画像のコントラストをさらに上げ、また画像が立体的に観察できる特長を持った照明方法。光波の位相が2πrad異なる2点間の距離をいいます。レンズの最後部の頂点からそのレンズの後側焦点までの距離のこと。二つの半導体の接触面(pn接合)付近での電子と正孔との再結合によって発生する光を利用する発光素子。略してLEDともいいます。カメラレンズをあるレンズセット位置に固定した時、ボケがなく、鮮明であると受け入れられるようなカメラから最も近い点と最も遠い点との間の距離、すなわち、レンズをある特定の距離に対して焦点を合わせた時、満足すべき鮮明度が得られる全体の距離。レンズの最前部の頂点からそのレンズの前側焦点までの距離のこと。光学顕微鏡での分解能は、2点分解能をもって定義されます。光がレンズの任意の光路を通り、垂直に1方向性のある光を照射する照明法。サンプルに対して明暗と凹凸をさらに強調し、画像に方向性が生じる。※モニターインチサイズにより異なります。モニターメーカーによってサイズが異なるため、倍率は目安程度となります。