円錐形のAPT試料は、試料の厚みと形状が常に変化するため、有用なt-EBSDパターンの収集に、固有の困難を伴います。正確なバンド検出とパターン指数付けを行えるよう、特殊なバックグラウンド補正が開発されました。要求される情報を得るのに必要な時間と労力を節約するために、検出器の収集パラメータもt-EBSD収集用に特別に最適化されています。円柱状の試料をAPT分析に必要な寸法に作るために使用する、FIB-SEMが必要です。試料の先端がFIBビームと平行になるように、装置の中に試料を配置します。この構成により、試料を動かす必要なしに、FIB加工、SEM画像化、およびt-EBSDデータ収集を行うことができます。これにより、2つの機器の間を移動させる際に生じる損傷リスクが排除されるため、試料の収率が増加します。粒界コントラストの強化t-EBSDマッピングにより、粒界位置を決定します。各FIB加工手順の間にこのデータを収集することで、粒界の位置を検出してモニターできます。粒界が試料の先端から必要な距離内にある場合は、試料のアトムプローブ分析を行う準備ができています。収集することができます。Assistを使用して試料から従来のEBSDデータを収集することもできます。タイプの異なる粒界は、異なる分離行動を見せるため、粒界分離問題を理解するために、粒界特性情報が重要になります。これは異なる材料特性の振舞いとして解釈され、粒界特性を明らかにすることで、アトムプローブの準備と分析のために、特定の粒界を容易に標的にすることができます。reserved.当サイトの利用を継続することにより、プライバシーポリシーおよびCookieポリシーに同意したとみなされます.OkMac2-8.1。