Assistは、粒界が検出され、次のアトムプローブ分析のために正しく配置されているか確認するために、各FIB加工手順の間に、粒界の位置をモニタリングする革新的な方法を提供します。使用して結晶方位を測定してイメージ化し、粒界位置を素早く簡単に特定することができます。三次元の化学組成と原子スケールでの画像化を提供する材料分析技術で、粒界分離分析に適しています。nm以内にあることが求められます。用いた調製は、問題点があることが多く、非効率的です。