アクセス人材募集お問合せ大阪大学との産学連携で実現した、初のリアルタイム・バックグラウンド除去分光計測(OES)システムです。めざましい進化を遂げているプラズマ分野に置いて、プロセス監視に大きな威力を発揮するリアルタイム分析は大変注目されています。安価でシンプルなシステムで導入しやすいシステムです。分光計測データから、リアルタイムで発光強度を分析、グラフ表示します。そこからターゲットとなる分子の輝線スペクトルの発光強度を割り出します。プラズマCVD炉などの気相状態のコントロールに役立ちます。岡本博明教授/松田彰久特任教授リアルタイムで連続スペクトルのバックグラウンドを除去プラズマ発光には黒体放射、熱放射と言われる連続スペクトルによるバックグラウンドが含まれています。バックグラウンドはソフトウェアによる自動解析が難しく、従来はプロセス後に人がバックグラウンドを判断していました。これを自動化することで、リアルタイムのバックグラウンド除去を可能にしました。新開発のアルゴリズム高機能グラフと再生機能が威力を発揮!クレブ製品に共通する「高機能グラフ」がデータ確認に大きな威力を発揮します。変動があった時に何が起こっているのかを把握しやすくなっています。リアルタイムだから幅広い分野に応用が可能!リアルタイムで正確に分子の動向をモニタリングできますので、プロセス監視に役立ちます。プラズマCVDによる成膜監視はもちろん、医療や食品分野での滅菌監視など、プラズマを利用したプロセス監視に最適です。信号出力機能がありますので、安価で手軽なエンドポイントモニタとして自動制御にご利用いただけます。プラズマパラメータ(※)パラメータ計算式ユーザ設定(※)※はオプションです。システム構成ソフトウェアと分光器及び周辺機器のセット販売も扱っております。IO機器を付属すれば、信号出力も可能になります。お気軽にご相談ください。Tek製(コニカミノルタオプティクス)※その他の分光器につきましてはご相談ください。プローブ専用架台もご用意できます。製品に関するお問い合わせ展示会でデモンストレーションをご覧いただけます。出展情報はページ下部にてご確認いただけます。AtomSpectraDBViewerクレブ製品カタログはカタログダウンロードサイトIPROSをご利用ください。クレブ製品カタログ最新情報2013/01/20信号出力機能を追加しました。最新情報をチェック!次回の予定は決定次第、ご案内させていただきます。商品に関するお問い合わせ、お見積もりのご依頼などメールにてお気軽にお寄せ下さい。製品カタログのダウンロードは下記が便利です。〒563-0032大阪府池田市石橋3-4-5エクセレント北大阪ビル3A。