本講演はお申し込み不要でございます。参加を希望される方は、当日会場へお越しください。概要:IoTが本格化する中、LSIの応用分野拡大に伴ってその品質確保のためのテスト技術の重要性が一段と高まっています。本講演では,LSIテスト技術の基礎として、論理回路のテスト生成手法及びテスト容易化設計手法について説明します。Symposium)2019について報告します。近年重要性が高まっているアナログ欠陥指向テストについても紹介します。