出願した特許の牽制数、引用された数などを知る事ができます。気になる技術や特許をブックマークしておけば、いつでも後から読むことができます。後で印刷するために、公報をPDFでダウンロードできます。会員登録してastamuseを使えば、もっと簡単に便利にお使いいただけます。会員登録(無料)「astamuse」は世界中の挑戦したい社会課題に挑戦し、未来を創る人のプラットフォームです。別人の方の出願情報が表示される場合がございます。半導体チップテスト用ソケット【目的】ICのベアチップのテストに適し、しかも、ピンの高さが高精度で揃う構成の半導体チップテスト用ソケットを実現することにある。プローブカード【目的】多ピンで狭ピッチのICのプローブテストにも適し、ピン先の高さが揃って十分なコンタクト圧が確保できる構成のプローブカードを実現する。プローブカード【目的】多ピンで狭ピッチのICのプローブテストにも適し、ピン先の高さ調整が容易な構成のプローブカードを実現する。プローブカード【目的】多ピンで狭ピッチのICのプローブテストにも適し、ピン先の高さ調整が容易な構成のプローブカードを実現する。プローブカード【目的】多ピンで狭ピッチのICのプローブテストに適した構成のプローブカードを実現する。多数の端子に接触する場合にコンタクト圧がばらつき難く、接触時の信頼性が高く、しかも、受入側のコンタクトピン接触部分の高さを薄くできる多列コンタクトピンおよびその製造方法を提供することにある。半導体チップテスト用ソケット【目的】ICのベアチップを実装状態に近い状態でテストすることができ、しかも高さが低く小形で生産性が高い構成の半導体チップテスト用ソケットを実現する。半導体チップテスト用ソケット【目的】ICのベアチップのテストに適した小形で生産性の高い構成の半導体チップテスト用ソケットを実現する。【目的】ICのウエハやベアチップ等のテストに適した生産性の高いテスト用コンタクトピンの製造方法を実現することにある。”未来を創るためのプラットフォーム”astamuseは、世界中で未来を創るための「仕組み」を提供するため日々改善を進めています。専門用語を解析し、意味や用法を知ることが出来るキーワード情報そしてこれらの情報を最大限活用することで、挑戦したい社会課題を独自の切り口で編集。社会に大きな変化を起こし、未来を創るために活動し続けるのは容易なことではありません。行う為に必要なサービスの提供を行っていきます。それが私たちの考える“未来を創ること”です。