(SEM)で透過電子顕微鏡(TEM)観察することができる試料ホルダーです。通常の3mm径のグリッドメッシュ上の超薄切片、ネガティブ染色、レプリカ膜等の薄膜試料の透過像が得られます。SEMの性能に匹敵した分解能の透過二次電子像が得られます。反射電子検出器のあるSEMでは、薄膜試料の反射電子像が得られます。X線元素分析検出器(EDX)のあるSEMでは、分析用ホルダーを使用することで薄膜試料の元素分析ができます。サイズはφ10mm×15mm(M4ネジ切り有)です。このサイズの試料台がセットできるSEMであれば使用可能です。貸出品をご希望の方は当社までご連絡ください。