Axis」マークにアライメントされた偏光成分)を透過させます。μmのレーザ光にご使用いただけます。側面のポートからは、全ての通常光線と一部の異常光線を含む非常に多くの反射光がエスケープします。そのため、反射光は完全な直線偏光ではありません。高品質偏光ビームを必要とする用途には透過した異常光線のみをお使いください。入出射面は、レーザに対応できる品質に研磨されてスクラッチ&ディグ20-10の表面仕上げになっているため、透過した入射ビームの異常偏光成分の散乱を最小限に抑えます。通常偏光成分は反射し、コーティングされていない2つの側面にあるポートの1つから68°(波長に依存)の角度で出力されます。この2つのポートにより、偏光子を双方向で使用することができます。常光線は完全に偏光されておらず、また、側面ポートの表面品質はスクラッチ&ディグ80-50と低くなっています。Zemaxファイル下の型番横の赤いアイコン(資料)をクリックするとZemaxファイルをダウンロードいただけます。こちらからは当社の全てのZemaxファイルの一括ダウンロードが可能です。方解石は温度の変動に弱い結晶で、熱衝撃を与えると割れます。梱包は熱平衡になってから(6~8時間後)開いてください。当社のグランテーラ方解石偏光子は黒色アルマイト加工の筐体に収められています。mmからお選びいただけます。nmのいずれかの広帯域ARコーティングが施されたタイプをご用意しています(詳細は「グラフ」タブ参照)。高出力の用途向けには、より低散乱の天然方解石製グランレーザ偏光子をご用意しています。マウント付き偏光子を当社の偏光プリズム用マウントに取り付けることによって、SM05やSM1ネジに取付け可能となります。mmのマウント付き偏光子を取り付けるとSM05ネジに対応します。mmの偏光子を取り付けることによりSM1ネジに対応可能となります。nmあたりの典型的な透過率は約75%となります(「グラフ」タブをご覧ください)。UV域での用途ではUV域で優れた透過率を有するα-BBO偏光子のご使用をお勧めします。mm)消光比(ER)は出力光にのみ対応した値(下記図面参照)。消光比(ER)は、評価する上で十分な偏光比を有する直線偏光を入射したときに得られる、最大透過率の最小透過率に対する比率です。偏光子の透過軸に対して入射光の偏光方向が平行のときに最大透過率、そこから偏光子を90°回転させると最小透過率が得られます。リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。ビーム径に対して偏光子の開口が十分な大きさがあり、偏光子が適切にアライメントされていることを必ずご確認ください。各偏光子は2つの分離したプリズムで構成されており、開口範囲内ではエアスペース構造ですが、開口範囲外でプリズムを接着しています。この接着部分に高出力レーザが照射されると、致命的な損傷や破壊を招く恐れがあります。偏光子のエスケープ面(入射/出射面に垂直)はコーティングされていません。「グラフ」タブ内の透過率および反射率プロット図をご参照ください。反射率の平均値はARコーティングの仕様値内です。視野(FOV)角度の向き側面のポートからは、全ての常光と一部の異常光を含む非常に多くの光量が漏れだします。そのため、側面ポートからの出力光を完全に偏光することはできません。出力光は高い消光比(100,000:1)を有します。方解石は柔らかい材質であるため、クリーニングには細心の注意を払ってください。偏光子のコーティング付きの面は、溶剤とエアを利用すれば、力を加えずにクリーニングできます。エスケープ面(入射/出射面に垂直なコーティング無しの面)は特にデリケートで簡単に損傷を受けますので、できる限りこの面には触らないでください。クリーニングは素早く、低角度で行ってください。これらの面を拭く必要性がある場合は、必ず溶液に浸したコットンまたは表面処理無の化粧紙を用いてください。こちらからダウンロードいただけます。上記の透過率のグラフは、GL10シリーズの方解石の典型的な透過率を示すもので、あらゆる内部損失を含みます。透過率は偏光子筐体に記されている線にアライメントしている直線偏光のみ有効です。方解石は天然の材質であるため、透過率のバラツキは非常に大きく、特にUV域と赤外域でその傾向は顕著です。したがって、下記の性能データはロット毎に異なる可能性があり、保証値ではありません。こちらからダウンロードいただけます。上記のARコーティングのグラフが示すのは、当社のグランレーザ方解石偏光子に施されたARコーティングの典型的な表面反射率です。このデータは表面コーティングの性能を表すもので、内部損失は含まれていません。mm各偏光子のマウント無しの長さは個々にバラつきがありますが、これは偏光子の性能には影響を及ぼしません。カスタム仕様、もしくはOEMの筐体が特定の長さの公差を必要とする場合には当社までお問い合わせください。方解石偏光子は高品質な複屈折方解石結晶を素材としています。方解石の複屈折性により、光学軸に平行な偏光成分と光学軸に垂直な偏光成分は異なる屈折率で伝搬します。当社のグランテーラ偏光子では、この複屈折性により入射ビームの常偏光成分が、内部のガラス/空気界面において内部全反射します。よって偏光子を透過する光は、残りの異常偏光成分のみです。透過した異常光線が高い偏光度を有する一方で、反射した常光線は部分的にのみ偏光されます。当社のグランレーザならびにグランテーラ偏光子は、反射したビームの常偏光成分を取り除く偏光素子として設計されています。右の図のように2つのプリズムで構成されています。これらの偏光子は十分にコリメートされたビームのみに対し性能を発揮します。集束ビームまたは拡散ビームでは、内部界面において適切な偏光状態と入射角度を有しません。方解石は損傷を受けやすい柔らかい結晶なので、当社の方解石偏光子の多くは金属製の筺体に納められています。これらの筺体は、ネジやアダプタを使って当社のオプトメカニクス製品へ簡単に取り付けることができます。View:FOV)方解石偏光子は、波長と入射方向によって視野(FOV)が変化する特性があります。アライメントやコリメートの際には、このプリズムのFOVを考慮する必要があります。下の図ならびにその右のグラフで示しているように、波長が長くなると偏光子のエスケープウィンドウ側のFOVが狭くなります(FOV1)。反対側では、波長が長くなるとFOVが広くなります(FOV2)。偏光プリズムには、高品質の天然方解石のみが使用されています。これらの偏光子の典型的な透過率グラフは、「グラフ」タブ内に掲載されています。方解石は天然に産出する物質であるので、結晶ごとのバラツキが透過率グラフと損傷閾値に影響を与えます。μm以上の波長域で生じるので、それよりも短波長の可視域や近赤外域で使用するのには適した材質と言えます。mm)当社のグランテーラ方解石偏光子の損傷閾値データ右の仕様は当社のグランテーラ方解石偏光子の測定値です。損傷閾値の仕様は、コーティングの種類が同じであれば偏光子のサイズにかかわらず同じです。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。