:日立ハイテクこのウェブサイトでは、JavaScriptの機能を有効に設定していただくことで、最適なコンテンツをご覧いただけます。様々な物理量を検出し、ナノレベルでサンプル表面の形状観察や物性マッピングを行うことができる装置で、利用分野が大きく広がっています。日立ハイテクサイエンスのSPM制御ステーション「AFM5000II」は進化した測定パラメーター自動調整機能RealTune(リアルチューン)IIを標準搭載するとともに、分かりやすさを追求したGUIに一新しました。これによりSPM初心者、また初めて測定する試料でも、再現性の高いデータが取得できます。進化したパラメーター自動調整機能RealTuneII測定時に調整が必要なパラメーター全てを自動調整するので、熟練したオペレーターがいなくても再現性の高いデータが取得できます。状態に合わせて、最適な測定条件を提供します。新GUIアイコン表示で見やすさ、使いやすさ、分かりやすさを追求しました。表示する情報を厳選することにより、初心者から上級者まで幅広いユーザーが迷わずに操作することができます。パラメーター自動調整機能RealTuneIIとの組み合わせにより、試料とカンチレバーのセット後はワンクリックで測定することができます。ついて」をよくお読みいただき、ご同意いただける場合のみ、お問い合わせください。Reader®が必要です。