Drawing消光比(ER)は、直線偏光を入射したときの最大透過率の最小透過率に対する比率です。偏光子の透過軸に対して入射光の偏光方向が平行のときに最大透過率が得られ、そこから偏光子を90°回転させると最小透過率が得られます。クリックしてご覧ください。リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。mm当社の偏光プレート型ビームスプリッタは、前面に狭帯域のビームスプリッターコーティングを施してご提供しています(右表内の図面をご覧ください)。従来のブリュースタ角の用途で設計された偏光ビームスプリッタとは異なり、この光学素子は入射角45°で使用されるよう設計されており、より取り付けやすくなっています。光学素子の角度を調整することはできますが、消光比の低下を招きます。このビームスプリッタは、入射時にP偏光が透過し、S偏光が45°で反射するよう設計されています。そのため基本的にこのビームスプリッタは、2つの反射帯域オフセットを持った45°高反射リフレクタとみなすことができ、その性質によって、P偏光の高い透過率とS偏光の高い反射率を同時に実現してます。このプレート型ビームスプリッタの表面に施されたハードコーティングによって、従来のコーティングの典型値より高い損傷閾値を得ることができます。高い消光比や透過率、損傷閾値を要求される用途には、偏光ビームスプリッターキューブよりこちらの光学素子が適しています。各円形プレート型ビームスプリッタには、型番と伝搬方向を示す矢印が刻印されています。長方形ビームスプリッタでは、ビームスプリッターコーティング側に型番が刻印されているので、前面と裏面の識別が容易です。mm)透過率の典型値これらのビームスプリッタのデータは入射角45°で取得されたものです。縦に入っている点線は最適性能が得られる波長を示しています。この波長の外側での性能はロット毎に異なり、保証されません。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge透過率データはこちらからダウンロードいただけます。当社ではビームを強度比や偏光に基づいて分岐する、様々なタイプのビームスプリッタを豊富にラインナップしています。フォームファクタの異なるものも多少ありますが、ペリクルや複屈折性結晶なども含めて、プレート型やキューブ型のビームスプリッタをご提供しております。ビームスプリッタの多くはマウント付きまたはマウント無しで取り揃えています。下記のリストでは当社のビームスプリッタの全ラインナップがご覧いただけます。消光比、透過率、サイズをご確認いただけます。mm)当社の偏光プレート型ビームスプリッタの損傷閾値データ右の仕様は当社の偏光プレート型ビームスプリッタの測定値です。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。