製造・加工時の変形や熱による局所的な結晶方位の変化(集合組織)を引き起こすことが知られており、その結晶方位により製品の性能が決まることから、結晶方位の解析およびその方位を持った結晶の定量的な評価を行うことが重要です。集合組織の評価には極点測定を行うことが一般的ですが、測定することのできる試料は測定面が平坦な場合に限られており、曲率を持った試料の結晶方位解析は非常に困難でした。数十μm領域の微小部測定を可能とする、多層膜ミラーを搭載したRINT-RAPIDIIを用いることで、曲率を持った試料の結晶方位解析が可能になりました。