mm)リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。undesirable.Zemaxファイル下の型番横の赤いアイコン(資料)をクリックするとZemaxファイルをダウンロードいただけます。こちらからは当社の全てのZemaxファイルの一括ダウンロードが可能です。mm(Ø1インチ)セレン化亜鉛(ZnSe)非球面レンズは、中赤外域において高い透過率を示します。μmの波長範囲での表面反射を最小限に抑えるARコーティング付きでご用意しています(型番末尾がそれぞれ-E、-Gとなっています)。(-G)以下となっています。詳細については「グラフ」タブをご参照ください。用いて、適切な非球面形状であることをテストしています。結果として、同じような大きさの成型非球面レンズに比べ、RMS波面エラーを通常20~50倍も改善します。平凸レンズに比べ、これらのZnSe非球面レンズは、透過した波面に球面収差を引き起こすことなく、一般的に集光やコリメートに利用されます。単色光源光を単一の球面レンズで集光またはコリメートする場合、回析限界に近い限界性能を達するのを妨げる主な原因が球面収差です。従って、球面収差が補正されている非球面レンズは、ファイバまたはレーザの出力のコリメート、光のファイバへの入射、空間フィルタ、ディテクタ上への光のイメージング等、多くの用途に適したレンズになります。コリメートにお使いの場合、もっとも良い性能を得るためには平坦面をレーザなどの点光源側に向けてください。屈折率が比較的高いので(約2.4)、フッ化カルシウム等の他材料で作られた非球面レンズよりも焦点距離が短く、低分散による設計が可能です。光学素子の取扱いには常に手袋をご着用ください。お客様の安全ため、これらのレンズのお取り扱いの際には手袋の着用に加え事後の適切な手洗いなど、すべての安全上のご注意をお守りください。ZnSeは硬度が低いので、レンズの損傷には特にご注意ください。こちらからダウンロードできます。使用済みのセレン化亜鉛(ZnSe)レンズは当社で適切に廃棄いたします。廃棄をご希望の場合は、当社までご連絡ください。mmの厚さ、コーティング無しのセレン化亜鉛(ZnSe)のサンプルを用いて測定しています。入射光は、表面に対して垂直です。このデータは、表面反射を含んだ透過率であることにご注意ください。μmの範囲における透過損失は、主に表面反射によるものです。μmにおいてn=2.4)。そのため、当社が販売しているZnSe非球面レンズには反射防止コーティングを施しています。このコーティングの性能については透過率プロットの下の反射率プロットをご覧ください。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。上図は、ARコーティングを施したセレン化亜鉛(ZnSe)非球面レンズの反射率を示しています。網掛け部分はコーティングの平均反射率が1.5%以下(Eコーティング)または1.0%以下(Gコーティング)であることを保証している範囲です。mm)当社のGコーティング付きZnSe非球面レンズの損傷閾値データ右の仕様は当社のGコーティング付きZnSe非球面レンズの測定値です。損傷閾値の仕様は、焦点距離にかかわらず全てのGコーティング付きZnSe非球面レンズで同じです。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。