CartExportForwardロッド用アダプタERSCBを使用してケージキューブC4Wを可変ビームスプリッタ/減衰器VA5-780(/M)に接続。当社の可変ビームスプリッタは、直線偏光の透過強度を連続的に変えることができます。これは、回転マウントに組み込んだゼロオーダ1/2波長板を使用して直線偏光の入射ビームを最初に回転させることによって実現しています。この光は、その後、偏光ビームスプリッターキューブによってs偏光成分とp偏光成分に分けられるので、分岐比は連続的に変わります。この効果は、ホログラフィや干渉計でよく利用されています。レーザーラインもしくは広帯域の波長範囲を連続調整できる製品をご用意しています。mmケージシステムを用いると、簡単にシステムに組み入れることができます。小型の回転マウントに取り付けた1/2波長板を使用しているため、ケージロッドを回転マウントと同じ面に取り付けても問題ありません。このマウントを用いて波長板を回転させることにより、システムの分岐比を連続調整することが可能です。追加の波長板を使用して、入射ビームポートへの後方反射を防いだり出射偏光を回転させたりすることもできます(「用途」タブ参照)。ビームスプリッターキューブはそれぞれケージキューブに接着剤で固定されているため、マウントから取り外すことはできません。底面のM4タップ穴を使用すると光学ポストに取り付けることができます。4つの貫通穴それぞれにSM1ネジが切られているので、レンズチューブや追加の回転マウントCRM05などのSM1対応部品を取付けることができます。各貫通ポートの周りにある2つの内孔(ネジ切り無し)を使用して複数のキューブを接続することができるカプラCM1-CCは別売りでご用意しています。SM1ネジ付きポートを使用している面にはこのカプラはお使いになれません。mm(Ø1/2インチ)回転マウントも別売りとなっています。「マウント付き光学素子ガイド」タブをご覧ください。mm(Ø1/2インチ)ゼロオーダ1/2波長板および連続回転マウントCRM05を使用して、独自の減衰器を構築されることをお勧めいたします。mm(Ø1/2インチ)1/2波長板を取り外し、CRM05に固定します。異なる波長の減衰器も同様の方法で構築できます。mmケージキューブもご用意しています。Enlarge入射ポートのアイソレーション(分離)通常の可変ビームスプリッタ/減衰器は、1/2波長板を使って直線偏光ビームの偏光を回転させます。ビームスプリッタの界面では、P偏光の光が透過し、S偏光の光は反射します。1/2波長板に適切な回転を与えることで、界面に入射するP偏光とS偏光の光量の割合を決めることができます(図1参照)。光がビームスプリッタを透過すると、系内の様々な光学部品で反射されます。これらの反射から光源を保護するため、1/4波長板を追加することでシンプルなアイソレータを形成できます。このアイソレーションはビームスプリッタの界面における偏光の透過/反射特性を利用します。入射ポートに光を戻さないために、出射ビームの偏光を90°回転させなければなりません。図2のように、光がビームスプリッタを出射すると、1/4波長板はP偏光を右回り円偏光に変換します。ビームスプリッターキューブを通して光は直線に伝播)は、ファスト軸もしくはスロー軸に対して45°の角度で1/4波長板に入射する必要があります。これは右上の写真のように、ケージ高精度回転マウントCRM1P(/M)を使用すると可能になります。レンズやミラーの前面の反射では、右手から左手に偏光を変換します。図3では、1/4波長板を透過した光は直線偏光に再度変換されます。この光は最初の偏光子の方向と直角になり、ビームスプリッタの未使用のポートに向かって反射することが重要です。これによって、直線偏光された2つの出射ビームによる被害を防ぐことができます。可変ビームスプリッタ/減衰器の入射ポートを完全に戻り光から保護するには、2枚の1/4波長板の使用が必要になります。出射ビームの各偏光は個々に回転され、処理されます。高出力光のアイソレーション、および、より高いアイソレーションについては当社の光ファイバーアイソレータの製品をご覧ください。Enlarge広帯域可変ビームスプリッタはアクロマティック波長板で直線偏光を回転させるため、アセンブリを透過する光強度の割合を様々な波長に対して調整することができます。ビームは一旦直線偏光が混合した状態になり、それらの偏光成分は偏光ビームスプリッターキューブによって分離されます。理想的な場合には、この直線偏光の混合状態は、アセンブリの動作波長範囲内ですべて同じになります。アクロマティック波長板のリターダンスと透過率は、動作波長により変化します。そのため、偏光ビームスプリッターキューブに入射される直線偏光の混合状態は波長によって変化します。広帯域可変ビームスプリッタの動作波長範囲の一部(狭い範囲)を使用する場合は、入射光の波長と要求される分岐比に応じて、波長板の物理的な回転角度を調整いただく必要があります。アセンブリの動作波長範囲の大部分を含むような広帯域の入射ビームの場合は、この波長板により、波長ごとにそれぞれ若干楕円偏光の状態になります。入射ビームのスペクトルの波長ごとに偏光の回転角度が異なります。このため、出射される偏光の強度は波長によって変化し、ビームの減衰量は一定ではなくなります。広帯域可変ビームスプリッタに入射される広帯域ビームが、アクロマティック波長板によって発生する波長依存性の楕円偏光によってどのように影響されるかを見るために、直線偏光の広帯域光源を使用して各ビームスプリッタの動作状態を全動作波長域にわたって調べました。アセンブリの透過光路における最大透過率は、透過偏光軸を入射偏光軸に合わせることで取得しています。透過光路での最小透過率は、上記に対してアクロマティック波長板を90°回転させて取得しています。結果のグラフからは、キューブの透過率は波長によって変化することが分かります。従って、広帯域ビームでは全波長範囲に渡って一定の減衰量を得ることはできません。これらのサンプルデータは各ビームスプリッタに対する1つの試験結果を示しており、すべての広帯域可変ビームスプリッタの性能を表しているものではありません。広帯域ビームに対して、より一定の減衰量を得たい場合には、可変NDフィルタのご使用をご検討ください。Hz損傷閾値は各製品のビームスプリッタにより制限されます。ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。線形パワー密度が長パルスおよびCW光源において最も適した測定基準である理由については、下記の「CWレーザと長パルスレーザ」をご覧ください。この損傷閾値は、様々な因子を考慮して実測した損傷閾値よりも低めに設定されております。実際にはこの損傷閾値のレーザ出力であれば光学素子は損傷を受けません。mm)損傷閾値は各製品のビームスプリッタにより制限されます。ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。線形パワー密度が長パルスおよびCW光源において最も適した測定基準である理由については、下記の「CWレーザと長パルスレーザ」をご覧ください。右の仕様は当社の可変ビームスプリッタ/減衰器の測定値です。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。