NT』や回転テーブルを不要とする傾斜観察機構などの機能をコンパクトなボディーに凝縮しました。X線発生器を使用することにより、従来の密閉管型のX製発生器と比べ高倍率での観察が可能となり、またターゲット位置の自動変更機能により経年的な画質の劣化も発生しません。コンパクトなシステムサイズ非常にコンパクトな設計により設置場所を選びません。実装基板や電子部品の詳細な検査に必要な傾斜観察のための機構はQuadraと同じ機構を採用し、サンプルの位置を変えることなくサンプル周囲360°どの方向からでも観察が可能です。フリーFAX:0120-537-554。