ラフネス等を非破壊的に求めることができる解析技術です。少人数グループにて、きめ細かく行ないます。6名の専門家がお答えします。桜井健次)に分かれて実施します。ご自分のPCを必ずお持ちください。皆様の解析上の疑問点や不明点を個別指導致します。ご自分のデータをご自分で解析されたい方のみ参加できます。8名まで)(薄膜・多層膜の実際に得られたX線反射率データの解析を実演いたします。得られた生データから始め、一段階づつ進め、ご質問などにも回答しながら、最終的に答えを出すところまで、丁寧に解説いたします。8名まで)(実データの例を素材とし、多くのシミュレーションを行うことの重要性やデータ解析の考え方、個々の細かな手順、注意事項を解説いたします。ダウンロードして、ご自分のPCでご覧頂くこともできるようにする予定です。ご希望のない場合も、個別にお話をうかががい、ご相談の上、最適のコースを決めさせて頂きます。当日になってからのコース変更はできません。「新版X線反射率法入門」(講談社、6804円)を参考書として配布するほか(ご希望に応じ着払い宅急便にて事前送付も致します)、すべての講義に完全対応したレジュメを用意いたします。参加申込み下記Webページにて、お申し込みください。折り返し、詳細なご連絡をいたします。