Analyzer)製品概要お問い合わせ偏心誤差(試料面の前後)の影響を受けない測定が可能です。左右の対称性が高い回折プロファイルを得ることができます。集中法に比べて、角度誤差を小さくすることができます。け作業、有機試料の測定プロファイル解析、薄膜・in-plane測定等に有効です。高分解能平行ビーム光学系は、X線回折装置の応用範囲を広げる画期的な光学系です。薄膜や、粉砕が難しい粉末、バルク材の測定などに利用されています。多層膜ミラーとPSAを装備することで、高輝度で単色化された強力な平行ビームを得ることができ、格子定数の精密測定やリートベルト解析に効果的です。250PSPCシステム上記以外の製品をお問い合わせに追加する場合、下記より装置の種類をお選び下さい。タロウE-mailアドレス例)info@rigaku.co.jp(英数字半角)こちらのアドレスにお問い合わせ内容の確認メールを送らせていただきますので、お間違いのないようご入力願います。例)042-544-9795(数字半角)ご意見・ご要望(1000文字まで)その他ご意見・ご要望等がございましたら、こちらにお書き添えください。ご記入いただいた個人情報は、本件に関するお客様へのご連絡に利用させていただくことがあります。