本機は半導体素子用バーンイン装置です。電源部には、大容量のドレイン電源、ゲート電源、などを備えています。試験部は2部を搭載し、各々に電源スイッチを持ち、独立に開始/終了ができます。ひとつの試験部には2個のDUTを実装した試験ボード5枚を装着できます。温度調節器もDUTごとに装備しているため、DUTごとに異なる温度試験も可能となっています。データロガーを試験部ごとに装備し、収集データはパソコンに取り込むことができます。パソコンとのインターフェースはGPIBまたはシリアル(RS232C)のいずれも使用可能です。試験部試験ボードに実装された各DUTに対応しています。試験部ごとに対応しています。DUTごとに7点の計測を行うことができます。DUT2個を実装した試験ボードを5枚x2収納できます。引き出し式の簡易作業台です。試験部ごとにDUTドレイン電源、AMPドレイン電源を別々に装備しています。試験部ごとにDUTゲート電源、AMPゲート電源を別々に装備しています。本試験架のメインブレーカとヒータ電源を内蔵しています。御社専用のバーンインボードを製作することにより素子のエージング装置として使用することができます。電源の種類や電圧/電流の変更や追加データー収集ソフトの追加など、ご要望を承ります。