干渉技術は、生体内部からの後方散乱光と既知の距離を進む参照光との間の干渉または相互作用として働きます。干渉計測は電界強度ではなく、光の電界を計測する。干渉計としては、主に図1のようなマイケルソン干渉計を用いている。ビームスプリッターで分割される。参照光学系とサンプルそれぞれからの後進光はビームスプリッターで再び結合され干渉信号を生成し、ディテクタ側へ出力される。干渉計の出力信号は、サンプルからの信号光とリファレンス光の和であり、であらわされる。ディテクタは出力の強度を測定するため、電界の2乗に比例して、以下のように表される。ΔLは信号光とリファレンス光の間の光路長差である。リファレンスの光路長は掃引されているので、干渉信号は時間の関数として生成される。これは、掃引されるリファレンス側の光路長によって、リファレンス側の電界信号がドップラーシフトしていると考えられる。コヒーレントな光(波長スペクトルバンド幅の短い光)を使うことで、長い光路長差に渡って干渉を観測することができる。光の遅延時間を計測するために、低コヒーレンス性(波長スペクトルバンド幅の広い光)が求められる。続きを読むにはユーザー登録が必要です。登録することで3000以上ある記事全てを無料でご覧頂けます。Google+)アカウントが持っているお客様は、右のサイドバーですぐにログインできます。登録されている方はユーザー名とパスワードを入力してログインしてください。*メールアドレスの間違いが増えています。正しいメールアドレスでないとご登録が完了しないのでお気を付けください。