会員登録すると専用コンテンツ・機能をご利用いただけます。100nmの極表層の硬度が知りたい。硬度・ヤング率の分布(マップ)を見たい!上記は、弊社が所有する最新のイメージング/分析機器で解決できるご相談の一例です。分析機器の輸出入商社として60年以上の歴史のある(株)東陽テクニカだからできる、最新鋭機器の日本最速導入により、どこよりも早く日本初のイメージデータ/分析データをご提供いたします。所有機器は下記となりますが、随時最新の機器導入をいたします。現在、ご利用できる機器の詳細についてはお気軽にお問い合わせください。お問い合わせ先と分析の流れ受託分析サービスのご相談、ご注文はから実際のデータ納品までは下記のような流れとなります。受託試験にかかる費用、納期はご希望の測定内容や試料によって異なります。ご希望いただいた装置及び測定内容によってお立会いでの測定か試料をお預かりしての測定となります。お見積もりあるいはお打合せの希望を、弊社受託サービス窓口までご連絡ください。ナノインデンターの測定原理を提唱したW.Oliver氏が直接設計にかかわったインデンターの最新機種で、バルク材料やミクロンオーダー厚の薄膜は勿論、従来のマイクロビッカース等の硬度計では困難であったサブミクロン厚の薄膜まで測定可能な硬度・ヤング率測定装置です。最新技術により素材の深さ方向の硬さのプロファイルや、高速硬度・ヤング率マッピングなどが実現し、従来の点計測ではわからなかった硬さの「分布」を描出できます。受託試験及び立会い試験は、2016年7月20日に慶應義塾大学矢上キャンパス内に開設された「ナノイメージングセンター」にて行います。同施設には、TESCAN社製の最新鋭プラズマFIB-SEMをはじめとする国外各社の最新イメージング/分析機器を導入しております。本施設にて、国内初あるいはまだほとんど導入されていない最新最高のイメージング分析機器を手軽にご体験、ご活用していただくことが可能です。本ウェブサイトではサイト利用の利便性向上のために「クッキー」と呼ばれる技術を使用しています。サイトの閲覧を続行されるには、クッキーの使用に同意いただきますようお願いいたします。詳しくはプライバシーポリシーをご覧ください。