ディスクリート半導体インクルードによる部品試験HD外観検査シルクスクリーン、コーディング、高精細度を含む高精細度外観テストは、はんだボールを検出します。最終機能テスト機能テスト中、DUTからの出力信号の電圧レベルは、機能コンパレータによってVOLおよびVOHリファレンスレベルと比較されます。出力ストローブは、出力電圧をサンプリングするためのテストサイクル内の正確な点を制御するために各出力ピンに対してタイミング値が割り当てられる。オープン/ショートテストオープン/ショートテスト(導通テストまたは接触テストとも呼ばれます)は、デバイステスト中に、DUTのすべての信号ピンに電気的接触が行われ、他の信号ピンまたは電源/グランドに信号ピンが短絡されていないことを検証します。プログラミング機能テストデジタルメモリ、マイクロコントローラ、MCUなどを含むチップのブランクチェックと同様に、読み取り、消去、およびプログラム機能を調べること。X線とROHSテストX-RAYは、ウェハとワイヤボンド、ダイボンドが良好かどうかを確認できます。私たちのサービス品質保証グローバル出荷よくある質問テクニカルサポートお問い合わせオンライン問い合わせSemicron-IGBT.comは2019年Semicron-IGBT.comの電子部品IGBTモジュールのディストリビューターです。Info@semicron-igbt.com。