鋼又はガラス製平板試験片(12)。注(10)材質は,STB-A1又は試験体と同等の超音波特性材。エコーの検出方法は,次による。FLに近い厚さ部の底面エコーを検出する。そのとき,適度な荷重を加えて探触子を試験片に均一に接触させる。X0以上の厚さの透過パルスを検出する。面からのエコーを検出する。そのとき,適度な荷重を加えて探触子を試験片に均一に接触させる。透過パルスを検出する。FLに位置させた平板試験片の表面エコーを検出する。そのとき,探触子の向きを調整し,振幅が最大のエコーを検出する。波探触子のときは、横波用接触媒質を用いる。エコー波形全体をゲート回路で切り出し,周波数分析器へ入力し周波数スペクトルを得る。比帯域幅を,次に従って求める。示すとおりに接続した機器を用いる。機器の性能は,周波数応答性の測定の場合(7.1.1)と同じである。周波数応答性の測定と同じ試験片(7.1.2)を用いる。