試験片と探触子の形名,製造番号,探傷器の調度及び求めた最小の段差を記録する。試験片及び機器は,次による。規定)の標準穴又はこの標準穴で校正された試験片を用いる。b)非集束の垂直探触子及び接触媒質を用いる。以下に保つことができる最大のゲインに調整する。置に探触子を設定する。6.5.3データの記録データの記録は,次による。a)垂直探傷の感度余裕値は,式(1)で求め,記録する。(1)b)標準試験片以外の試験片を用いた場合には,式(2)で求め,記録する。エコー高さより高いときを示す。