なるようにゲインを調整する。6.6.3データの記録データの記録は,次による。A1感度は,式(3)で求めた値を記録する。A2感度は,式(4)で求めた値を記録する。(4)c)試験片と探触子の形名,製造番号,及び探傷器の調度を記録する。規定),実際の探傷作業で使用する垂直探触子及び接触媒質を用いる。なるようにゲインを調整する。%fs以下となる直前の板の厚さ(t)を求める。6.7.3データの記録データの記録は,次による。a)求めた厚さ(t)を垂直探傷の追込み範囲とする。b)探触子の形名,製造番号及び探傷器の調度を記録する。定期的に実施する点検であって,点検頻度及び点検項目は,この規格の使用者が定める。定期点検項目には,次の項目を含める。必要な項目があれば追加する。以下のゲイン調整器ステップで行う。要な情報をすべて含む。定期点検においては,様式を定め,複数回の点検結果が容易に比較できることが必要である。次の事項を参考に,必要な項目を記録する。2344で測定した試験周波数(時間軸の直線性の表示の場合を除く。測定結果の表又はグラフを作成した場合には,表又はグラフと直線性の範囲とを記録する。測定結果の表又はグラフを作成した場合には,表又はグラフと直線性の範囲とを記録する。垂直探傷の分解能は,測定方法の種類を明記し,次による。形対比試験片によって求めた遠距離分解能をミリメートル単位で記録する。分解能及び近距離分解能をミリメートル単位で記録する。形対比試験片によって求めた遠距離分解能及び近距離分解能をミリメートル単位で記録する。求めた斜角探傷の分解能をミリメートル単位で記録する。