分析サービスカーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で研究開発をサポートします。)では球面収差を補正したおよそ0.1nmという極微小電子線を用いて試料断面の観察・分析を行います。調べることや、二次電子検出器を用いて表面形状を観察することも可能です。付属するEDXやEELSにて元素分析や化学結合状態分析も可能です。原理サブナノメートルまで細く絞った電子プローブを試料上で走査させ、走査させた位置における散乱された電子を試料下部の各種検出器で収集し、電子プローブ走査と同期させることでモニタ上に観察像を形成する手法です。・グローブボックスを介さずにFIB⇒STEMへの試料搬入も可能。変質しやすい試料に対してより試料本来の姿を維持しやすい。二次電子検出器(SE)低加速電圧:80,120kVQ&A観察条件の指定は必要でしょうか?基本はご指示いただいた条件にて観察を行いますが、条件が決定できない場合は任意で撮影を行いまして、再度、観察箇所や倍率などのご相談をさせていただきます。データはどのような形式でいただけますか?ご指定のフォーマットもしくは弊社のフォーマットにて報告書を作成致します。写真の元データもJPEG・BMP・TIFFの形式で提出可能です。試料の調整(前処理・FIB加工等)から作業を依頼することは可能ですか?切断・研磨・FIB等の設備を所有しておりますので、観察・分析の前処理が可能です。立会測定は可能ですか?弊社にお越し頂き立会での測定が可能です。相談させて頂きながらご指示頂けますと、より的確なデータの取得が期待できます。収束角が大きくなり、取得・解析は困難となります。ご希望の際は協力会社にて実施させて頂きます。観察後の薄片試料は返却してもらえますか?試料薄片加工のノウハウがあるため基本的に返却はお断りしております。情報管理の観点から弊社での保有が難しい場合は契約時にその旨をお伝え頂けましたら対応いたします。0120-31-6620オペレーターが内容確認後に担当よりご連絡致しますので回答にはお時間をいただきます。CCDなどの光学顕微鏡による形態観察を実施します。目的に応じた設備で、断面試料作製及び分析を実施します。試料表面に含有される元素(B~U)の定性・定量分析を実施します。製品や材料の主成分を特定することで、お客様の研究開発をサポート致します。