研究支援能力を分野横断的にかつ最適な組合せで提供できる共用システムを構築し、研究課題解決への貢献を目指して活動しております。仕様Gaイオンビームによるナノメートル単位でのスライス加工と走査電子顕微鏡による高分解能観察を交互に連続して行うことが可能。SEM鏡筒とFIB鏡筒が直角に配置されていることで、高精度の三次元構造解析が可能である。XEDSも装備し、三次元元素マッピングも可能である。本研究設備の詳細や利用方法等は、問い合わせフォームよりお問い合わせください。