公開JTAGバウンダリスキャンツール:ソフィアシステムズ、デバイス内部から端子状態を調査できる「Query-J」を発表ソフィアシステムズは、基板の配線切断やMPUの端子状態を調査するための探索ソフトウェア「Query-J」をリリース。同社のJTAGエミュレータ「EJSCATT」と組み合わせて使用することで、デバイス内部からJTAG経由で端子状態を取得できる。});ソフィアシステムズは2012年1月12日、組み込み機器の試作段階において、デバイスの端子状態を調査するための探索ソフトウェア「Query-J」のリリースを発表した。Array)パッケージなどを使った基板の配線切断や端子状態調査をはじめ、隠れた端子の信号を調査するために開発されたソフトウェアである。BGAパッケージの採用や狭ピッチデバイスを使用すると、部品の実装密度を上げ、小型化を促進し、開発コスト削減にもつながるが、その半面、これらの基板では端子状態の調査は大変困難となる。そこで、試作基板段階でテスト用のパターンをわざわざ引き回したり、基板のレントゲン検査を行ったりするわけだが、時間とコストが掛かる他、検査精度の低さに課題が残る。同製品と、同社のJTAGエミュレータ「EJSCATT」とを組み合わせて使用することで、デバイスの内部からJTAG経由で端子の状態を取得できる。EJSCATTをターゲットのJTAGコネクタに接続、またはJTAGコネクタに集約された形でない場合は、個々の信号端子をクリップして端子の状態を取得する。XP/Vista/7)以下、端子状態の調査を支援する同製品の主な機能を示す。Language)情報を登録済み。−端子名と状態の一覧を表示。−バウンダリスキャン結果を波形表示。−デバッガを動かしながらバウンダリスキャンチェックが可能。SNSfacebooktwitterITmediaはアイティメディア株式会社の登録商標です。