背景照明と直接撮影を利用した粒子計測システムです。球形/非球形、透明/不透明、液体/粉体/気泡など多様な粒子を測定できることを特徴とします。粒子形成過程から飛翔状況までを可視化しながら定量化できるため、分散二相流の特性把握に威力を発揮します。Laser)システム、濃密粒子群測定のためのプローブ方式のFtrPIA-Endoscopeのラインナップを揃えています。)法による粒子計測システムです。背景照明と直接撮影を利用した粒子計測システムの基本システムです。)法による粒子計測システムです。背景照明と直接撮影を利用した粒子計測システムの基本システムです。Laser(TCL)を利用した被写界深度チェック機能付のPIAシステムです。DIT法の欠点とされた被写界深度の影響による測定精度低下を克服した高精度粒子計測システムです。独創モデル化事業における開発費支援を受けて開発されたものです。